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QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀

2025-04-28

產(chǎn)      地：
日本
所在地區(qū)：
上海上海市
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QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。


QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復(fù)合型高精度3D測(cè)量系統(tǒng)。



可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。

產(chǎn)品陣容
型號(hào)
測(cè)量范圍：
X軸最大（mm）     Y軸最大（mm）         Z軸最大（mm）
Hyper QVWLI 302     300                200                190
Hyper QVWLI 404     400                400                240
Hyper QVWLI 606     600                650                220




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