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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>super-E8 rohs檢測(cè)儀器

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super-E8 rohs檢測(cè)儀器

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市禾苗分析儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) super-E8
  • 產(chǎn)地 深圳
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
  • 訪問(wèn)次數(shù) 408

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        深圳市禾苗分析儀器有限公司是以市場(chǎng)為導(dǎo)向的專業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)、銷售科學(xué)分析儀器的高科技企業(yè)。公司以“安全、環(huán)保、誠(chéng)信、尊重、協(xié)作”為核心理念，凝聚國(guó)內(nèi)外近幾十年分析儀器*技術(shù)，大膽改革創(chuàng)新，著力打造國(guó)內(nèi)*、*的分析儀器企業(yè)


       公司目前產(chǎn)品主要有X射線熒光光譜儀、液相色譜儀和氣相色譜儀。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于無(wú)機(jī)元素分析、環(huán)境分析、有機(jī)和生物化學(xué)、食品分析、醫(yī)藥衛(wèi)生研究、法醫(yī)學(xué)、工業(yè)分析和臨床檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室等領(lǐng)域。

ROHS檢測(cè)儀

 

鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品規(guī)格及技術(shù)特點(diǎn)
 1、儀器規(guī)格:
Ø 外形尺寸    ：380 mm x 510mm x 365 mm （長(zhǎng)x寬x高）
Ø 樣品倉(cāng)尺寸       ：360mm×330 mm×50 mm （長(zhǎng)x寬x高）
Ø 儀器重量        ：33.5kg
Ø 供電電源    ：AC220V/ 50Hz
Ø zui大功率    ：330W
Ø 工作溫度    ：15-30℃
Ø 相對(duì)濕度    ：≤85%，不結(jié)露
2、鍍層測(cè)厚儀器特點(diǎn)：
Ø 外形特點(diǎn)：
ð 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，儀器兩側(cè)按成人手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì)，方便移動(dòng)、搬運(yùn)。
ð 上蓋傾斜6度角，寓意對(duì)客戶的尊重。
ð 樣品蓋采用鉛玻璃防輻射技術(shù)，在保證操作人員安全的前提下，方便觀察樣品；
ð 表面采用高檔汽車噴漆工藝，采用寶藍(lán)、雅致白搭配，藍(lán)色代表科技，白色代表圣潔，寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。
Ø 輻射防護(hù)：
ð 樣品蓋鑲嵌鉛板、鉛玻璃屏蔽X射線。
ð 輻射標(biāo)志警示。
ð 迷宮式結(jié)構(gòu)，防止射線泄漏。
ð 安全連鎖設(shè)計(jì)；測(cè)試過(guò)程中誤打開樣品蓋時(shí)，電路0.1μS快速切斷X射線。
ð 儀器經(jīng)第三方檢測(cè)，X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。
Ø 硬件技術(shù)：
ð 超短光路設(shè)計(jì)：提高無(wú)鹵檢測(cè)分辨率，提高樣品分析效率，降低光管功率，延長(zhǎng)儀器使用壽命。
ð 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，提高元素分辨率。
ð 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；*設(shè)計(jì)。
ð 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
ð 快拆卸樣品臺(tái)，換薄膜更方便。
Ø 軟件技術(shù)：
ð 分析元素：Na~U之間元素。
ð 分析時(shí)間：60~400秒。
ð 配置RoHS檢測(cè)分析模型、無(wú)鹵分析模型和鍍層厚度分析模型。
ð 軟件界面簡(jiǎn)潔，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰，易操作。
ð HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原功能，保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。
ð HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。
ð HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能，客戶建立自己的工作模型。
 
鍍層測(cè)厚儀器硬件配置
 
1、探測(cè)器
Ø 類型：Si-PIN探測(cè)器（采用原裝風(fēng)進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器）
Ø 進(jìn)口探測(cè)器
Ø Be窗厚度：1mil
Ø 晶體面積：25mm2
Ø *分辨率：149eV
Ø 信號(hào)處理系統(tǒng)DP5
 2、X射線管
Ø 電    壓     ：0~50kV
Ø zui大電流     ：2.0mA
Ø zui大功率     ：50W
Ø 靶    材     ：Mo
Ø Be窗厚度    ：0.5mm
Ø 使用壽命     ：大于2萬(wàn)小時(shí)
 
3、高壓電源
Ø 進(jìn)口高壓電源
Ø 輸出電壓：0~50kV
Ø 燈絲電流：0~2mA
Ø zui大功率：50W
Ø 紋波系數(shù)：0.1%（p-p值）
Ø 8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%
 
3.4、攝像頭
Ø 微焦距
Ø 免驅(qū)動(dòng)
Ø 500萬(wàn)像素
3.5、準(zhǔn)直器、濾光片
Ø 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)

Ø 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器



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