MHT³ 安東帕微米壓痕儀
- 公司名稱 安東帕(上海)商貿(mào)有限公司
- 品牌 Anton Paar/安東帕
- 型號(hào) MHT³
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/12 16:02:35
- 訪問次數(shù) 1796
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
安東帕微米壓痕儀特點(diǎn):
儀器化壓入測(cè)試 (IIT) 用于測(cè)量硬度和彈性模量
位移-儀器化壓痕:持續(xù)測(cè)量與施加的載荷和相關(guān)的位移,獲得材料硬度和彈性模量
一臺(tái)儀器即可進(jìn)行從納米到宏觀尺度的壓痕
從小位移(幾納米)到大位移(大 1 mm)的壓痕
大載荷范圍(從10 mN 到 30 N)以滿足樣品特性的要求
大載荷范圍 對(duì)測(cè)量粗糙表面尤為有用
高精度的位移和載荷可進(jìn)行精確的微米壓痕測(cè)量
兩個(gè)獨(dú)立的傳感器:一個(gè)用于載荷,一個(gè)用于位移,來進(jìn)行準(zhǔn)確的計(jì)量測(cè)量
高框架剛度:2 x 108 N/m,更高的位移準(zhǔn)確度
材料性能的位移曲線
連續(xù)多周期 (CMC) 的位移曲線:硬度和彈性模量與壓入位移的關(guān)系
壓入載荷和位移控制模式
可視點(diǎn)陣模式通過顯微鏡觀察對(duì)樣品進(jìn)行多點(diǎn)定位測(cè)試通過
多個(gè)測(cè)試模式:可使用用戶自定義程序根據(jù)需要設(shè)置測(cè)試參數(shù)
安東帕微米壓痕儀技術(shù)指標(biāo)
載荷 | |
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大載荷 | 30 N |
分辨率 | 6 μN(yùn) |
本底噪音 | <100 [rms] [μN(yùn)]* |
位移 | |
大位移 | 1000 μm |
分辨率 | 0.03 nm |
本底噪音 | <1.5 [rms] [nm]* |
載荷框架剛度 | > 107 N/m |
標(biāo)準(zhǔn) | ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507, ASTM E384 |
*理想實(shí)驗(yàn)室條件下規(guī)定的本底噪音值,并使用減震桌。