XGT-5200 X射線分析顯微鏡
- 公司名稱 昂奇科技(上海)有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場(chǎng)
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問(wèn)次數(shù) 731
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概要
臺(tái)式XGT - 5200系統(tǒng)搭載*的X射線導(dǎo)管,允許高空間分辨率的X射線熒光分析--從1.2毫米到10微米。無(wú)需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中,即可在正常大氣壓力下分析。*整合的軟件可控制樣品的移動(dòng),獲取數(shù)據(jù)分析(包括定性和定量分析,并生成成分組成圖像)。將樣品放在樣品祥中后,只需幾秒鐘,借助直觀的“point and click”選擇分析位置,即開(kāi)始抓取數(shù)據(jù)。
樣品觀察采用同軸幾何呈象,可消除視差,您可以相信,看到的樣品即是測(cè)量的位置。
儀器裝載了兩個(gè)X射線管,從而使用戶能夠簡(jiǎn)單地切換顯微和宏觀光束,可適用于一系列實(shí)驗(yàn)。這些光管傳遞的高強(qiáng)度光斑確保了zui低的數(shù)據(jù)獲取時(shí)間。而光管的單毛細(xì)管設(shè)計(jì)非常適合高強(qiáng)度的元素成像,甚至對(duì)于不平整樣品同樣有效。
通過(guò)自動(dòng)采樣掃描很容易獲得XRF面掃描圖像,樣品下方的第二次信號(hào)檢測(cè)能同時(shí)收集X射線透射圖像。這項(xiàng)技術(shù)可提供額外的結(jié)構(gòu)信息,極有利于對(duì)興趣區(qū)域的定位,或了解樣本的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
特征
- zui高的空間分辨率
HORIBA*的X射線光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析,X射線光斑直徑小到10微米。這種zui高強(qiáng)度的超細(xì)光斑,可進(jìn)行快速無(wú)損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。
- X射線透射成像
結(jié)合XRF成像, XGT–5200可抓取透視圖像。這可被用來(lái)進(jìn)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析,定性那些眼睛不可見(jiàn)的區(qū)域。用垂直束窄掃描完成后,得到清晰穿透圖像甚至非平面樣品,如圓筒形部件。
- 完整地分析整個(gè)樣品
該樣品室可以容納廣泛的樣品進(jìn)行分析,從10 μm的微區(qū)功能的點(diǎn)分析,到10cmX10cm大面積分析。
- 整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件
直觀的軟件可以輕松地控制儀器硬件,快速采樣的可視化和選擇測(cè)量區(qū)域,全面的數(shù)據(jù)分析。功能包括自動(dòng)峰識(shí)別,定量測(cè)量, RGB圖像生成,線剖面分析。