SPECTRO-LAB 斯派克直讀光譜儀，SPECTRO LAB分析儀，進(jìn)口光電光譜儀價(jià)格

斯派克直讀光譜儀，SPECTRO LAB分析儀，進(jìn)口光電光譜儀價(jià)格

    廣州高測儀器專業(yè)代理德國斯派克光譜儀，我們做到服務(wù)*，為每個(gè)用戶打造的一套實(shí)驗(yàn)方案。用*的科技讓廣大用戶在實(shí)驗(yàn)中得到zui大的解決。想了解更多關(guān)于直讀光譜儀的請??！

    SPECTRO公司推出的全新SPECTROLAB 新型金屬分析儀大大提高了分析性能，增強(qiáng)了靈活性，操作更為簡便。根據(jù)用戶要戶要求量身定制，十種標(biāo)準(zhǔn)基體：鐵、鋁、銅、鎳、鈷、鎂、鈦、錫、鉛和鋅，可以與五種貴金屬基體：金、銀、鉑、鈀、釕組合配置。SPECTROLAB光學(xué)系統(tǒng)集合了傳統(tǒng)光電管光學(xué)系統(tǒng)和CCD全譜光學(xué)系統(tǒng)的所有優(yōu)點(diǎn)。適用于各種分析要求，可廣泛應(yīng)用于金屬冶煉、金屬加工與回收等行業(yè)。

斯派克直讀光譜儀，SPECTRO LAB分析儀，進(jìn)口光電光譜儀價(jià)格

    SPECTROLAB在金屬分析市場聲名*?；晒碜杂诘姆治鲂阅芎偷墓庾V技術(shù)：光源，光學(xué)系統(tǒng)和讀出系統(tǒng)。光譜線選擇的靈活性，確保其在全部金屬分析領(lǐng)域都具有*分析性能。M11又一次提供了分析性能的提升。操作簡化，功能增強(qiáng)，維護(hù)量減少?？焖佟⒏咝?、易懂的數(shù)據(jù)存檔功能是新軟件的特點(diǎn)之一，集成結(jié)果管理器中（Result Manager）。氬所消耗量的進(jìn)一步降低和分析流程的進(jìn)一步縮短，突出了M11的經(jīng)濟(jì)節(jié)能特色。SPECTROLAB留有儲存工具的位置。根據(jù)人體工學(xué)設(shè)計(jì)的操作平臺高度適于第天大量樣品分析。電腦臺高度可調(diào)，鍵盤擱析可伸縮。電腦置于防塵倉室內(nèi)，并有USB接口外置。

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:產(chǎn)品特點(diǎn)

    *的雙動力光學(xué)系統(tǒng)的入射光是由火花臺直接同時(shí)導(dǎo)入光電管（PMT）和CCD光學(xué)系統(tǒng)。同時(shí)具備超低檢測限和靈活選擇光譜線的特性。

    全譜覆蓋120-800nm，自由選擇光譜線用于分析    

    全數(shù)字等離子發(fā)生器光源精確控制激發(fā)條件    

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)

    SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了兩種檢測器的優(yōu)勢：光電倍增管和CCD檢測器。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構(gòu)，光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅(jiān)固，同時(shí)減少了內(nèi)部空間體積。內(nèi)部恒溫、恒壓確保光學(xué)系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。UV-PLUS技術(shù)用于保障遠(yuǎn)紫外光譜范圍的測量。密封光室內(nèi)部在儀器出廠前充入高純氣，保證遠(yuǎn)紫外光譜的透過率。光室內(nèi)的氬氣由分子薄膜泵驅(qū)動循環(huán)至凈化裝置，以保證內(nèi)部氬氣的高純度。

UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)是純凈的，同時(shí)具有杰出的*穩(wěn)定性。系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率，運(yùn)行成本很低。

    的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與UV-PLUS概念相結(jié)合，M11能夠同時(shí)以高達(dá)9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部一級光譜圖。這一核心技術(shù)奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:等離子發(fā)射光源

    一代等離子發(fā)生器是至今zui堅(jiān)固的激發(fā)光源。超穩(wěn)定的能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品。全數(shù)字信號發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出，確保激發(fā)區(qū)等離子體能量超高分辨率和高保真輸出。在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù)，提高了樣品輸出量和過程控制效率。

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:火花臺

    M11的火花臺直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)。火花臺內(nèi)部體積進(jìn)一步縮小，優(yōu)化氬氣流向設(shè)計(jì)使得氬氣消耗更低，同時(shí)有效移除殘留粉塵。尾氣經(jīng)兩級過濾系統(tǒng)排出?；鸹ㄅ_工作維護(hù)量極低。*壓桿可以左右移動，接駁安全電路?？梢钥焖俑鼡Q樣品。適用分析大尺寸異型樣品。特殊設(shè)計(jì)的樣品夾可用于分析小樣品，細(xì)絲和薄片。小樣品分析程序提高了 分析精度和準(zhǔn)確性。

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:分析流程

    M11的精致設(shè)計(jì)使用日常維護(hù)和校工作量降到zui低，儀器操作變得非常簡單。日常分析按一個(gè)鍵就可以完成。配合自動制樣設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)全自動大樣品量輸出。集成于Spark Analyzer Vision 軟件包的硬件診斷系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)控和存檔儀器的運(yùn)行狀態(tài)。對于儀器參數(shù)設(shè)置，數(shù)據(jù)管理，聯(lián)網(wǎng)傳輸，打印和材料牌號判定等功能，軟件設(shè)計(jì)了簡單直觀，易懂的操作界面。SQL數(shù)據(jù)庫格式是數(shù)據(jù)管理軟件的基礎(chǔ)。

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:分析

    基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。CCD光學(xué)系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學(xué)系統(tǒng)zui多可設(shè)置108個(gè)高性能光電倍增管。每個(gè)光電管通道都有是一個(gè)微積分器，具有TRS（時(shí)間分解光譜技術(shù)）分析痕量元素和SSE（單火花評估技術(shù)）分析元素相態(tài)。事實(shí)上，所有分析要求都可以在M11中*無折衷地實(shí)現(xiàn)。

配備zui現(xiàn)代光譜技術(shù)和高質(zhì)量的元器件，SPECTROLABM11設(shè)計(jì)應(yīng)用于解決各種分析要求。憑借其杰出的性能表現(xiàn)和靈活性，適用于過程控制，質(zhì)量監(jiān)控，材料牌號判定，材料研究和開發(fā)，以及金屬冶煉，加工和回收工業(yè)中的各種分析應(yīng)用。

斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:讀出系統(tǒng)

    讀出系統(tǒng)同時(shí)處理來自光電倍增管和CCD檢測器的信號。光學(xué)系統(tǒng)可以配置22塊CCD檢測器（可擴(kuò)展至37塊CCD），每塊CCD有3800像素。全譜記錄時(shí)龐大的數(shù)據(jù)信號通過讀出系統(tǒng)采集和顯示。這為未知材料新金屬研發(fā)等而下之應(yīng)用提供大量豐富的元素光譜信息對于日常分析，智能數(shù)據(jù)篩選器將自動選取“應(yīng)用區(qū)域”信號進(jìn)行傳輸。

根據(jù)應(yīng)用需求設(shè)置光電倍增管檢測器。光子電流信號由檢測器微積分器以微秒極步長記錄處理。單個(gè)火花放電周期可以劃分為100個(gè)以上步長。每個(gè)光電管通道以此方式記錄光譜強(qiáng)度發(fā)生，增長消失的過程。相對于傳統(tǒng)光譜積分技術(shù)，可以將每個(gè)火花周期的信號單獨(dú)記錄，而百將幾秒內(nèi)的幾百個(gè)火花信號部總量積分測量。夾雜物，偏析，元素間相態(tài)相關(guān)性測量和評估可以通過這一技術(shù)實(shí)現(xiàn)。

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斯派克直讀光譜儀SPECTRO-LAB:軟件

    導(dǎo)航按鈕鏈接三個(gè)主要程序模塊：分析，方法建立和儀器配置。測量窗口可顯示多次分析結(jié)果和平均值。用Windows剪切析可以輕松拷貝分析結(jié)果和其它數(shù)據(jù)到任何Windows應(yīng)用軟件。實(shí)時(shí)顯示的診斷和維護(hù)檔案系統(tǒng)持續(xù)提供的儀器運(yùn)行狀態(tài)。當(dāng)達(dá)到設(shè)定條件（如激發(fā)次數(shù)）系統(tǒng)自動提示維護(hù)請求?？梢耘卸ú环霞ぐl(fā)條件的樣品。表面不夠均勻的樣品識別后會自動調(diào)整預(yù)燃時(shí)間使之均勻化，然后進(jìn)行測定。采用新數(shù)據(jù)管理軟件Result Manager使存儲數(shù)據(jù)檔案更方便，快速可。以對分析數(shù)據(jù)和控制數(shù)據(jù)進(jìn)行審核，追溯?？梢詫?shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，圖表分析等。

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