USM 87 美國(guó)GE檢測(cè) 絕緣子便攜式超聲探傷儀
- 公司名稱 深圳埃科瑞儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) USM 87
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2021/9/15 15:47:12
- 訪問(wèn)次數(shù) 737
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粘度計(jì) 、 密度計(jì)、電子分析天平、電子密度天平、濃度計(jì)、PH計(jì)、水質(zhì)檢測(cè)儀、涂層測(cè)厚儀、電火花檢漏儀、表面粗糙度測(cè)試儀、光學(xué)儀器、光譜分析儀、實(shí)驗(yàn)儀器、物理儀器、分析儀器、化工儀器、涂層測(cè)厚儀,超聲波測(cè)厚儀,超聲波探傷儀、表面粗糙度儀、輪廓儀等.
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 數(shù)字式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
美國(guó)GE檢測(cè) 絕緣子便攜式超聲探傷儀
USM 87 是一款便攜式超聲波探傷儀。 除其輕便設(shè)計(jì)外, USM 87 還包括一個(gè)簡(jiǎn)潔明快的用戶界面和一個(gè)易于讀數(shù)的彩色
WVGA(800x480) 大顯示屏。
在此模式下,該儀器可以存儲(chǔ) A 掃描、操作參數(shù)和報(bào)告。
服務(wù)范圍: 船舶及船用產(chǎn)品的超聲探傷-UT;磁粉探傷-MT;滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。(奧林巴斯/汕超/美國(guó)GE/達(dá)高特/中科漢威/友聯(lián)/聲納/)配件:相控陣探頭,直探頭,斜探頭,連接線,探頭線,保護(hù)膜,試塊,耦合劑,雙晶探頭,表面波探頭,小徑管探頭,小角度探頭,水浸探頭,非金屬探頭,可拆式探頭,可變角度探頭,窄脈沖探頭、測(cè)厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT;磁粉探傷-MT;滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。
美國(guó)GE檢測(cè) 絕緣子便攜式超聲探傷儀技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)范圍 14 米(縱波鋼)
脈沖模式 尖脈沖,方波
脈沖電壓 方波 120V-300V連續(xù)可調(diào),步距 10V; 尖脈沖 120V(低),300V(高)
脈沖寬度 方波模式 30ns-500ns 連續(xù)可調(diào),20ns 步距
阻尼 50 或 1000 歐姆
脈沖重復(fù)頻率 在 15Hz-2000Hz 連續(xù)可調(diào),步距 5Hz
增益 110dB, 步距 0.2dB, 0.6dB, 1dB, 2dB, 6dB, 10dB
帶寬 0.2MHz-20MHz
濾波器 寬頻,1-5MHz, 2MHz, 2.25MHz, 4MHz, 5MHz, 10MHz, 13MHz, 15MHz
顯示屏 LCD, 有效顯示尺寸長(zhǎng) 108mm, 寬 64mm
分辨率 800×480
儀器接口 雙 LEMO-00
報(bào)警 閘門 A,B報(bào)警
輸出接口 Micro USB, 2GB SD 卡
檢波模式 全波,正半波,負(fù)半波 ,射頻
閘門 獨(dú)立 A,B
測(cè)量模式 峰值,前沿
保存格式 JEPG圖像,連續(xù)記錄視頻文件
連續(xù)記錄 存儲(chǔ)高頻率可達(dá):50Hz, 連續(xù)存儲(chǔ)時(shí)間沒(méi)有限制
定量曲線 DAC 曲線
尺寸 175 毫米×111 毫米×50 毫米
重量 845 克,含電池
語(yǔ)言 中文
電池 5.5 小時(shí)
工作溫度 -10 ° C 55 ° C
充電器 “通用型”AC(100-240V, 50-60Hz)
防塵防水等級(jí) IP67
電磁兼容認(rèn)證 EN 55011, EN61000-6-2
認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn) EN12668; ASTM E1324, E317
垂直線性 2%
水平線性 0.1%
動(dòng)態(tài)范圍 34dB
靈敏度余量 60dB
分辨率 42dB
門檢測(cè)模式 設(shè)置。
• SA - 通過(guò)閘門 A 的高回波或*個(gè)波側(cè)所代表的聲路距離或持續(xù)時(shí)間
• SB - 通過(guò)閘門 B 的高回波或*個(gè)波側(cè)所代表的聲路距離或持續(xù)時(shí)間
• SBA - 從閘門 A 的高回波或*個(gè)波側(cè)到閘門 B 的回波之間的聲路距離或持續(xù)時(shí)間。只有在閘門 A 和閘門 B 都設(shè)為
ON(打開(kāi))時(shí),讀數(shù)才可用。
• DA - 閘門 A 回波所代表的從試件表面的探頭觸點(diǎn)側(cè)到反射物之間的材料厚度深度。
• DB - 閘門 B 回波所代表的從試件表面的探頭觸點(diǎn)側(cè)到反射物之間的材料厚度深度。
• LA - 閘門 A 回波所代表的反射物的半跨距數(shù)目。
• LB - 閘門 B 回波所代表的反射物的半跨距數(shù)目。
• PA - 閘門 A 回波所代表的從探頭 BIP 到反射物之間的投影距離。
• PB - 閘門 B 回波所代表的從探頭 BIP 到反射物之間的投影距離。
• RA - 閘門 A 回波所代表的從探頭 BIP 到反射物之間的投影距離,減去當(dāng)前 X 值。
• RB - 閘門 B 回波所代表的從探頭 BIP 到反射物之間的投影距離,減去當(dāng)前 X 值。
• A%rA - 通過(guò)閘門 A 的信號(hào)的幅度,表示為當(dāng)前 EVAL MODE(評(píng)估模式)參考幅度的百分比。
• A%rB - 通過(guò)閘門 B 的信號(hào)的幅度,表示為當(dāng)前 EVAL MODE(評(píng)估模式)參考幅度的百分比。
• dBrA - 通過(guò)閘門 A 的信號(hào)與當(dāng)前 EVAL MODE(評(píng)估模式)參考高度之間的 dB 等效高度差。
• dBrB - 通過(guò)閘門 B 的信號(hào)與當(dāng)前 EVAL MODE(評(píng)估模式)參考高度之間的 dB 等效高度差。
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