雷尼紹 XL 80激光干涉儀

XL 80激光干涉儀   

XL 80激光干涉儀

激光系統(tǒng)射出的光波具有三種主要特性：
• 已知準確波長，可實現(xiàn)準確測量
• 波長非常短，可實現(xiàn)準確或高分辨率測量
• 所有光波相位相同，可根據(jù)已知的基準進行測量
 

應用：
1. 機器驗證
XL-80激光系統(tǒng)常見的用途是用來驗證運動系統(tǒng)。通過測量機器性能，用戶不僅對加工過程充滿信心，還可提前發(fā)現(xiàn)加工件中存在的問題。 與激光跟蹤系統(tǒng)不同的是，XL-80可直接在機器上單獨測量幾何誤差。這樣一來，用戶對測量結果更有信心，并且能夠發(fā)現(xiàn)誤差。
機器精度可通過以下途徑提高：
• 對機器裝配進行針對性改造
• 根據(jù)數(shù)據(jù)應用誤差補償重復運行測試可驗證所作的改進并展示機器改進后的功能。

2. 誤差補償
誤差補償可通過減少機器所示位置和實際位置之間的誤差來提升機器的整體性能。大多數(shù)機床都會包含一些用于調整反向間隙和線性誤差的選項。然而，功能更強大的機床控制器可提供在刀尖位置應用空間補償?shù)倪x項?？臻g補償將考慮所有幾何誤差，包括線性誤差。XL-80可用于將補償值填入到補償表中。 雷尼紹空間補償軟件將激光測量讀數(shù)轉換成補償文件，然后可直接將其輸入到特定的機床控制器中。

3. 專業(yè)激光觸發(fā)
當對線性測量采用“自動”采集功能時，系統(tǒng)會在機器移至一個被認為穩(wěn)定的位置時測量位置誤差。然而，一些應用需要激光系統(tǒng)在自定義的時間或在同步位置采集數(shù)據(jù)。
觸發(fā)方式：
• 使用計算機鼠標或按鍵手動觸發(fā)
• 編碼器同步觸發(fā)
• 基于時間的觸發(fā)
• 利用繼電器通過機器的控制器進行觸發(fā)
* 要求使用TB10觸發(fā)器

4. 動態(tài)分析
了解系統(tǒng)的動態(tài)特性，例如加速度、速度、振動、停止時間、共振和減振，對于許多應用都至關重要。這些特性將影響系統(tǒng)的操作能力，例如位置精度、重復性、表面光潔度及磨損。標準的XL-80激光干涉儀可以高達50 kHz的頻率采集動態(tài)數(shù)據(jù)。QuickViewXL軟件包簡單易用，有直觀的界面，能夠記錄、查看和保存動態(tài)數(shù)據(jù)。

5. 雙軸
在一些設備中，機器的一個軸由兩個驅動裝置和兩個反饋系統(tǒng)控制（如龍門銑床、車床和大型龍門型坐標測量機）。在這種情況下，兩個激光裝置與雙軸軟件結合使用，能夠自動同步采集平行軸數(shù)據(jù)。雙軸測量軟件為LaserXL軟件的標準配置。

SPELECNIR是市場上*將近紅外光譜與電化學測量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學和光學測量可以實現(xiàn)準確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺雙恒電位/恒電流儀。

該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨立使用。SPELECNIR可以與標準比色皿支架或光譜電化學測試池池一起使用，也可以配合DropSens測試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。

主要特點

• DropView同時控制光譜與電化學測量

• 光譜信號與電化學測量同步采集

• 實時采集光譜，無延遲

• 暗譜與參考譜校正

• 計數(shù)、吸收率、透射率和反射率測量和計算

• 自動和手動快門控制

• 自由選擇積分時間

• 強大的數(shù)據(jù)處理和分析

• 可分別提供光譜和電化學曲線相關信息

強大的的數(shù)據(jù)采集與結果處理

• 實時控制面板，可在電化學測量過程中隨時連續(xù)收

集生成的光譜。

• 特定波長下光譜與電化學曲線圖：電位吸收圖，計時

吸收圖和微分圖。

• 獨立收集每個光譜和電化學曲線的信息。

• 的EC范圍內捕獲的光譜, 獲取與特定EC點相關

的光譜。

• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。

• 三維繪圖, 錄制實驗影片。

• 所有數(shù)據(jù)均可導出Excel。