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自動化傳函測試儀KALEO MTF

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測試儀

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先鋒科技是國內的光電產品系統(tǒng)集成商之一,總部位于香港。目前擁有員工30余人,銷售工程師及技術服務工程師全部具有相關專業(yè)的大學本科及以上學歷。憑借在光電領域前沿的不斷探索,公司不僅為用戶提供國外原廠生產的各類標準產品,而且致力于根據用戶的具體要求,提供完整的系統(tǒng)解決方案,包括設計、生產、集成和二次開發(fā)等。

公司一直持續(xù)關注光電類前沿的技術產品,從初期只與有限幾個品牌有業(yè)務關系,發(fā)展到現(xiàn)在與幾十家歐美公司長期密切合作。公司提供的產品,其涵蓋面也從初的光譜儀器單一類別,發(fā)展到現(xiàn)在的成像產品、各種激光器、激光測試、太赫茲、光度色度測試、光電元器件、光學元件、精密光學機械運動控制等幾乎所有光電行業(yè)產品系列。公司實行不同產品系列團隊負責制,力爭將銷售和技術崗位的工程師都培養(yǎng)成為各自負責產品類別的人才,實實在在地讓客戶體會到專業(yè)團隊的專業(yè)服務!

公司擁有一支具備專業(yè)知識的銷售工程師團隊,并始終要求相關團隊成員,在銷售過程中從各個領域內的用戶處時刻更新自己的知識內容,保持對各應用領域內新研究內容的了解,從而能夠結合儀器設備的技術特點,按照廣大用戶的不同應用要求,提供準確、先進的各種儀器解決方案。

公司的技術服務工程師積累了豐富的儀器安裝、調試及故障解決經驗,并不斷結合科研生產儀器設備的新技術發(fā)展及用戶的要求,努力完善售后服務體系,力爭做到在盡可能短的時間內為用戶提供迅速有效的技術響應,使用戶的各種技術服務要求盡量得到滿足。針對主營產品和業(yè)務,公司每年定期安排技術服務工程師參加各類技術培訓,購買相應的零配件,力爭做到絕大部分的主流產品維修本地化,免除由于路程往返造成的時間、費用和工作效率上的損失。

公司商務部門的貿易專員,每年均要處理大量的貿易合同。公司商務團隊,以其豐富貿易經驗,努力協(xié)調公司內外以及公司內部各部門的行動,力爭讓用戶在短的時間內收到訂購的儀器,享受到相應的服務。

全體員工努力工作的目標是:把公司建設成為一個光電行業(yè)系統(tǒng)集成業(yè)務市場中,先鋒科技衷心希望得到新老客戶一如既往的支持!

 

 

 

 

光譜相關產品,激光與測量系統(tǒng),影像采集,光度色度儀器,探測器產品,氣體傳感器,光學元件等光電產品

產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 化工,石油,電子/電池,道路/軌道/船舶 組成要素 固體激光器產品及設備

自動化傳函測試儀KALEO MTF可以全自動測試透鏡的傳遞函數(shù)、像差等品質,具備自動進樣、自動對焦、自動離軸測試等功能,是生產線小批量鏡頭QC/ 篩選的理想設備。

測試功能:

在軸及離軸MTF

越焦MTF

透過波面畸變(TWE

Zernike 系數(shù),直達高階系數(shù)并具備逐階分析功能

鏡頭參數(shù):EFLF#

OPD

像散、畸變、場曲、相對照明

性能優(yōu)勢:

單次采集測量,無需標分板;

全自動測試

離軸測試無需再次準直

便利快捷的準直調試

自動對焦

手動/自動進樣

單孔/多孔鏡頭托盤

高性價比

等同于干涉儀的確

直達截止頻率的MTF測量;

多波長測試(標配RGB+IR

高品質準直光源

多方位、多角度測試

 

自動化傳函測試儀KALEO MTF主要技術指標:

 

在軸MTF

精度 <1%

可重復性 <0.5%

離軸MTF

精度 <2%

可重復性 <1%

MTF*頻率

1000 cc/mm

MTF精度

短波及中波紅外 ±0.02 / ±0.03

短波紅外及可見 ±0.01 / ±0.02

MTF可重復性

短波及中波紅外 ±0.015

短波紅外及及可見 ±0.01

EFL

精度 1%

可重復性5% (采用5mm EFL鏡頭測試)

畸變

精度 <0.5%

可重復性 <0.05%

OPD (在軸)

精度 20nm rms

可重復性 <5nm rms

場曲

精度 <5um

可重復性 <1um

光學設計

有限或無限遠架構

波長范圍

400-1100nm/ 900-1700nm

3-5um/ 8-14um

入瞳直徑

8.8mm

口徑范圍

2 200mm

F#

> 1.8

焦距范圍

5 - 500mm

法蘭距

8 - 30mm

視場

可達 ±120°

 

典型應用:

 

自動駕駛    安防      無人機          消費電子

 

功能示例:

 

像差及傳遞函數(shù)測量 

利用455、530、660nm三個波長測試,在-90° ~ 90°視場范圍內均可獲取高質量的結果。 

l透過波差測量

 

在任意位置測試透過波差并與Zemax設計值相比較,從而幫助設計工程師高效的獲得優(yōu)設計。

 

l實時Zernike 系數(shù)測量

 

可在光學系統(tǒng)對位、調節(jié)的過程中實時測試各階Zernike系數(shù);

可以人為“濾除”某些階次的Zernike系數(shù),以幫助調節(jié)人員更好的理解主要像差來源。



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