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Park NX20 300mm 原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡

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西努光學(xué)創(chuàng)建于2003 年,主營工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備、鏡片測定設(shè)備,高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、機器視覺等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學(xué)秉承“以光學(xué)為核心,為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗思路,經(jīng)過16年的努力,成為眾多企業(yè)、高??蒲袉挝惶峁└鞣N專業(yè)化的光學(xué)系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng),通過系統(tǒng)資源整合,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)、快捷的專業(yè)化服務(wù)。
2016 年,我們積極引進(jìn)檢測設(shè)備的同時導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實驗室平臺,以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗服務(wù)。



奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機,標(biāo)樂金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學(xué)設(shè)備

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池

可用于 300mm晶片圓測量和分析的*級自動化納米測量工具

Park NX20 300mm是大樣品原子力顯微鏡,支持300mm×300mm全程機動化。新升級的Park NX20系統(tǒng)專為失效分析和質(zhì)量控制實驗室設(shè)計,可有效地檢測整個300mm晶圓,且無需任何繁瑣的樣品位移。盡管擴大了支持300mm樣品的機動XY工作臺,但Park的創(chuàng)新性振動隔離技術(shù)仍然能夠?qū)⑾到y(tǒng)噪聲保持在低于0.5 (?) RMS,通常是0.3 ? RMS的水平。
經(jīng)檢驗的該產(chǎn)品性能和單擊-原子力顯微鏡自動化取消了樣本調(diào)整的需求,并使Park NX20的掃描過程盡可能高效和便于使用。通過我們的“批處理模式(Program Mode)”界面,用戶可以在整個300mmx300mm區(qū)域輕松實現(xiàn)可靠與可重復(fù)的順序多站點測量。NX20 300 mm從而成為需要掃描大樣品的FA、QA和QC工程師的理想之選。

專為大樣品晶圓檢測而建
NX20 300 mm進(jìn)行了全新設(shè)計,可達(dá)到大樣品的*佳測量。整個300mm晶圓區(qū)域可進(jìn)行低噪聲測量分析。這開啟了一個全新的自動化測量范圍,讓工程師可以更快捷、更簡便、更精確地開展工作。

NX20 支持300mm樣品臺,性能已被證實
因其易用性和自動化以及不受影響的精度,NX20已是FA、QA和QC工程師的*。憑借其支持300mm電動XY軸工作臺的擴大平臺,NX20 300mm更上一層樓,允許用戶輕松地以*的精度檢測更大的樣品。


Park SmartScan™讓精確測量更為簡單
Park NX20配備了我們的SmartScan操作系統(tǒng),使其成為市場上最易于使用的原子力 顯微鏡之一。通過直觀且極為強大的界面,即便是未經(jīng)培訓(xùn)的用戶無需協(xié)助也可快速掃描大樣品。這使高級工程師能夠集中精力解決更大的問題和開發(fā)更好的解決方案。

a在完整300mm晶圓上掃描多個位點
SmartScan™允許用戶從位點到位點和樣品到樣品的層面上,借助基于網(wǎng)格和晶圓的模式,進(jìn)行自動順序測量與表面形態(tài)、高度和表面粗糙度的比較。這可以大大提高掃描大樣品時的用戶便利性和生產(chǎn)效率。
b強大的工作創(chuàng)建功能
格式創(chuàng)建流程簡單,允許工程師設(shè)置每個批次的位置、名稱、數(shù)量和類型所定義的預(yù)設(shè)。

針對廣泛應(yīng)用性進(jìn)行優(yōu)化
NX20 300mm為眾多應(yīng)用提供自動格式的測量,為納米級的樣品提供高級測量和分析。具有粗糙度、高度和深度測量,缺陷檢查,電氣和磁故障分析,熱性能表征和納米力學(xué)性能成像等能力,該設(shè)備是檢測大樣品的FA、QA和QC工程師執(zhí)行各種任務(wù)的理想選擇。





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