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UP17-H/W 系列 Gentec-EO激光功率計(jì)

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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年,專(zhuān)業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括:
光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等;
激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等;
                         集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等
                         顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門(mén)控時(shí)間、FLIM、高精度脈沖延時(shí)器等。
                         值得一提的是,近年來(lái)公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測(cè)量?jī)x,CRD光腔衰蕩法高反測(cè)量?jī)x,偏心曲率測(cè)量?jī)x等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶 組成要素 半導(dǎo)體激光器產(chǎn)品及設(shè)備

Gentec-EO激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過(guò)45年的歷史。 我們?cè)诙兰o(jì)九十年代中期引入WB系列的平均功率密度損傷閾值為100 kW / cm2。 Gentec-EO還為您提供UP12-H&UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭,UP19-VR系列特定UV和IR波段的高峰值功率脈沖損傷電阻,以及高平均功率探頭。Gentec-EO激光功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面等特點(diǎn)。

特點(diǎn):      

1.薄外殼:

       厚度僅為10.7 mm!

2.2 種吸收體可選

•H5: 36 kW/cm2

•W5:  100 kW/cm2

3.高功率尺寸比

       6 W 連續(xù)讀數(shù)

4.能量模式

       可測(cè)量高達(dá)200 J 單發(fā)能量(使用 W5 版本)

5.智能界面







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