X-RAY電鍍膜厚儀微先鋒XRF-2020射線測(cè)厚儀

X-RAY電鍍膜厚儀微先鋒XRF-2020射線測(cè)厚儀

通過CCD鏡頭觀察快速無損測(cè)試鍍層膜厚

測(cè)量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...

可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層

韓國XRF-2020

L型測(cè)厚儀或H型

功能特點(diǎn):

XRF-2002膜厚儀X射線熒光技術(shù),該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用

可在建立測(cè)量曲線存儲(chǔ)的情況下提供易于操作、快速和無損的電鍍膜厚測(cè)量。

范圍包括從元素周期表中的Ti 22到 U92

XRF-2020具有大小不同的樣品艙。

微先鋒XRF-2020電鍍層測(cè)厚儀

產(chǎn)品功能:

1. 采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!

1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數(shù):可測(cè)5層。

3. 測(cè)量產(chǎn)品位置尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測(cè)量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)

4. 測(cè)量時(shí)間:通常15秒。

5. H型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。

6  L型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

7. 測(cè)量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。

8. 可測(cè)厚度范圍:通常0.01微米到60微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

產(chǎn)品參數(shù):

X射線光管 鎢靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏(1毫安)可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

探測(cè)器 高分辨氣體正比計(jì)數(shù)探測(cè)器

韓國電鍍測(cè)厚儀微先鋒X-RAY膜厚儀

測(cè)量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測(cè)量樣品長寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg

XRF-2020H型:測(cè)量樣品長寬55cm,高10cm:臺(tái)載重5kg

儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量

多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換

韓國Micropioneer XRF-2020測(cè)厚儀

快速無損測(cè)量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

X-RAY電鍍膜厚儀微先鋒XRF-2020射線測(cè)厚儀