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TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海磊微科學(xué)儀器有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) TESCAN CLARA
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2022/12/13 14:13:20
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1216

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上海磊微科學(xué)儀器有限公司 成立于2015年，總部位于上海市自由貿(mào)易區(qū)，是一家集銷售、服務(wù)、技術(shù)支持及研發(fā)為一體的企業(yè)。公司主要產(chǎn)品為高精度的分析檢測(cè)、生產(chǎn)設(shè)備及相關(guān)的備件，目前已與Park、Tescan、Picosun、Instec等優(yōu)秀設(shè)備供應(yīng)商建立戰(zhàn)略合作關(guān)系。

上海磊微銷售高精度的產(chǎn)品，同時(shí)培養(yǎng)了專業(yè)的銷售和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，以專業(yè)的服務(wù)獲得了廣大客戶的認(rèn)可。目前，上海磊微提供的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于芯片、顯示、太陽(yáng)能等半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域客戶，同時(shí)服務(wù)于各大高校、科研院所，并以專業(yè)的銷售和售后服務(wù)獲得了廣大客戶的認(rèn)可并建立了良好的合作關(guān)系。同時(shí)在北京、成都、深圳、合肥、煙臺(tái)等地設(shè)有服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展如火如荼的今天，上海磊微伴隨著行業(yè)不斷學(xué)習(xí)、積極提升自身水平， 為越來(lái)越多的客戶提供了專業(yè)的產(chǎn)品和服務(wù)。今后，磊微將以不斷培育的市場(chǎng)為依托，以先進(jìn)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品為核心，以高效運(yùn)作的團(tuán)隊(duì)為基礎(chǔ)，迎來(lái)更快更好的發(fā)展。我們一直秉承團(tuán)結(jié)創(chuàng)新、嚴(yán)謹(jǐn)奮進(jìn)的企業(yè)精神，秉承誠(chéng)信務(wù)實(shí)、互利多贏的經(jīng)營(yíng)理念，努力為客戶、為社會(huì)提供高品質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù)。



原子力顯微鏡，掃描電鏡，原子層沉積ALD，探針

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 聚焦離子束 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,能源,電子/電池

TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是一款應(yīng)用廣泛的多功能掃 描電子顯微鏡，是基于成功的S8000基礎(chǔ)上進(jìn)一步 研發(fā)的，其設(shè)計(jì)更能滿足材料科學(xué)的需求，適用于 對(duì)各種不同類型材料的分析和表征。

TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是真正靈活的分析平臺(tái)，能 得到具有好襯度的優(yōu)質(zhì)圖像。無(wú)論樣品是否導(dǎo) 電、有無(wú)磁性、是有機(jī)還是無(wú)機(jī)材料， CLARA均可提供理想的圖像，這得益于具有電子 信號(hào)過(guò)濾功能的良好探測(cè)系統(tǒng)和可變真空環(huán)境的系 統(tǒng)設(shè)計(jì)。

BrightBeam™SEM 鏡筒

最新的BrightBeam™ SEM鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁 場(chǎng)高分辨成像，適用于磁性樣品分析。新型鏡筒中 的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特 別適合分析電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品。

多探測(cè)器成像分析

CLARA配置最新的多種探測(cè)器，可 選擇不同角度和能量收集信息，體現(xiàn)更多種類的 信息，同時(shí)能夠獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度。

SE 分辨率：0.9 nm@15kV

•  1.2 nm @ 1 kV

•  配置靜電■電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄， 可實(shí)現(xiàn)磁性樣品超高分辨成像和分析 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證復(fù) 雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)

•  配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀 測(cè)，樣品信息采集更加全面

•  超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，可配置多種分析附件， 并實(shí)現(xiàn)Raman 一體化集成

1、硅基底上的鍍金顆粒。

2、陶瓷斷裂表面，2 keV成像。

3、在Cyr。條件下觀察到的真菌弛子。

4、用TESCANCL探測(cè)器獲得的石英晶體的CL圖像。



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