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硅光子和PIC測試

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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硅光子

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上海攸亦光電科技有限公司是一家專注于光譜技術(shù)和應(yīng)用開發(fā)的科技企業(yè),提供紫外,可見,近紅外,中紅外到太赫茲范圍的光電產(chǎn)品,包括光學(xué)元件,光學(xué)儀器,光譜儀,光學(xué)機(jī)械,成像系統(tǒng),以及各種定制產(chǎn)品和服務(wù)。為科研院所和企業(yè)客戶提供專業(yè)的應(yīng)用咨詢和產(chǎn)品解決方案。



光學(xué)元件、光學(xué)儀器、光纖器件、光學(xué)成像、光機(jī)械

價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池,綜合
組件類別 其他

硅光子和PIC測試


硅光子和光子集成最/全面、最快速的測試方案

LUNA提供基于光頻域反射技術(shù)(OFDR)的獨(dú)/特測試系統(tǒng),和為現(xiàn)代硅光子 集成器件提供準(zhǔn)確和快速的測試方案。

10μm空間分辨率的器件光路損耗測試

Luna的超高空間分辨率背光反射計,具備背向散射級的探測靈敏度,為光無源 器件提供前/所未有的分布式損耗分析。

一臺設(shè)備即可測試器件的全部光學(xué)參數(shù)

Luna光矢量分析儀(OVA)能夠通過對光無源器件的一次掃描測量,即可完成 對線性傳輸矩陣 (瓊斯矩陣)、插入損耗 (IL)、群延時 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相關(guān)損耗 (PDL) 等關(guān)鍵光學(xué)參數(shù)的測量。

全新6415光器件分析儀

Luna全新的6415是一款同時具備高測量頻率和高空間分辨率的背光反射計產(chǎn) 品,同時可提供插入損耗(IL)的透射測試和分析模式,是產(chǎn)線檢測和品質(zhì)控 制的理想選擇。

應(yīng)用

?生產(chǎn)測試

?質(zhì)量控制

?生產(chǎn)問題診斷

?設(shè)計表征與分析

?驗證模型并改進(jìn)仿真

?無源光器件和模塊:濾波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光柵、WSS、ROADMs等


示例:平面光波導(dǎo)的表征


平面光波導(dǎo)作為硅光子平臺的關(guān) 鍵組成部分,對測量方法提出了 更高的挑戰(zhàn),包括在單位長度內(nèi) 存在更大的損耗、更高的偏振相 關(guān)性等等。

Luna的掃描激光干涉技術(shù),能夠通過對器件的掃描,獲得沿器件光路的 亞毫米級空間分辨率的損耗測量結(jié)果,同時也可獲得更全面的其他光學(xué)參 數(shù)指標(biāo)。比如對波導(dǎo)光柵的測量,我們能夠同時獲得波導(dǎo)光柵在時域上的 端面及尺度特性,以及在頻域上的頻譜響應(yīng)特性。

使用Luna的分析軟件,您可以區(qū)分并挑選合適的光柵反射區(qū)域,從而可 以輕松觀察到TM模和TE模在頻譜響應(yīng)中表現(xiàn)出的不同偏振效應(yīng)。否則, 整體頻譜響應(yīng)(如下圖中紅色曲線所示)將被很強(qiáng)的端面反射造成的頻譜 響應(yīng)所充滿。


時域響應(yīng)結(jié)果顯示,強(qiáng)烈的端面反射和波導(dǎo)光柵反射能夠被清晰 的區(qū)分和呈現(xiàn)。


通過時域響應(yīng)能夠很容易地確定光柵反射峰值,從而可僅對光柵部 分進(jìn)行頻譜分析(藍(lán)色曲線)。波導(dǎo)的整體頻譜響應(yīng)如紅色曲線所示。


*的硅光子和 PIC 測試解決方案

Luna*的光學(xué)測量系列產(chǎn)品,基于光頻域反射技術(shù)(OFDR),具有業(yè)界領(lǐng)/先的測試動態(tài)范圍、時域和頻譜測試分辨率以及 測試速度。




光矢量分析儀 OVA 5000

• 全面的波導(dǎo)器件表征

• 全面的偏振分析,無需偏振控制器或 準(zhǔn)直保偏光纖

• 單次快速掃描,即可獲得

IL、RL、PDL、CD、PMD、TE/TM狀 態(tài)等參數(shù)的測試結(jié)果

背光反射計 OBR 4600

• 卓/越的硅光子、PIC和光學(xué)器件的光路 分布式損耗測試能力

• 10μm長度分辨率; -140dB探測靈敏度

• 易于測量和分析波導(dǎo)散射和損耗特性

• 亞皮秒分辨率的長度偏差測量

光器件分析儀 Luna 6415

•用于產(chǎn)線測試和質(zhì)量控制的高速分析儀

•單臺儀器具有反射和透射兩種測量模式

• 高空間分辨率的沿光路長度上的回?fù)p 分布測試

• 透射和反射光路的頻譜響應(yīng)分析



硅光子和PIC測試



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