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QUINTSONIC 7多涂層厚度測(cè)量

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無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司是一家專門從事精密測(cè)量?jī)x器銷售的公司,公司的銷售人員會(huì)在售前提供給客戶良好的服務(wù)體驗(yàn),以及耐心的產(chǎn)品講解,公司的技術(shù)人員擁有著豐富的產(chǎn)品實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn),能夠幫助客戶解決他們所遇到部分棘手問題,同時(shí)也能為客戶提供優(yōu)質(zhì)的售后體驗(yàn)。我們目前所銷售的產(chǎn)品以及系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學(xué)和其他研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評(píng)估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動(dòng)精益求精。






涂層測(cè)厚儀,鍍層厚度測(cè)量?jī)x,涂鍍層厚度無(wú)損測(cè)量?jī)x,手持式涂鍍層測(cè)厚儀,表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x,油漆涂層測(cè)厚儀,便攜式涂層測(cè)厚儀,菲希爾涂層測(cè)厚儀,無(wú)損測(cè)厚儀,覆層測(cè)厚儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥,綜合

QUINTSONIC 7多涂層厚度測(cè)量

QUINTSONIC 7多涂層厚度測(cè)量

QuintSonic7超聲波涂層測(cè)厚儀

QuintSonic7超聲波涂層測(cè)厚儀適用于塑料,金屬,木頭,陶瓷, 玻璃基體上油漆,瓷釉和塑料覆層從10 μm涂層厚度擴(kuò)展測(cè)量范圍可 達(dá) 7mm一次可以測(cè)量5層覆層厚度 也適用 GRP 和 CRP

可以顯示A型掃描圖像

可以測(cè)量塑料,金屬,木頭,玻璃和陶瓷上的油漆,0755-塑料覆層的厚度。一次可以無(wú)損地測(cè)出5層覆層的厚度。

采用創(chuàng)新技術(shù)的QuintSonic 7是 個(gè)可以準(zhǔn)確測(cè)量GRP(熱固性塑料或玻璃鋼)和CRP(低溫鋼)工件厚度的測(cè)厚儀。

此項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)是通過A型掃描圖像功能。不用將儀器連接到電腦就可以直接顯示圖表信息。從而 程度的實(shí)現(xiàn)了在任何情況下測(cè)量的可靠性,使QuintSonic 7成為 的現(xiàn)場(chǎng)、實(shí)驗(yàn)室或者車間測(cè)量的工具。QuintSonic 7在汽車制造業(yè)、手工業(yè)等需要高精度測(cè)量的所有行業(yè)中有廣泛應(yīng)用。

QuintSonic 7另一功能:可透過涂層測(cè)量薄的基材厚度。

工作原理是基于超聲波反射, Quint Sonic 7智能探頭發(fā)出的超聲波脈沖進(jìn)入覆層后,脈沖傳輸?shù)礁矊咏Y(jié)合面或與底材臨界面時(shí), 一部分脈沖被反射回來(lái). 這些反射的超聲波脈沖被傳感器接收,通過聲波在介質(zhì)中傳輸?shù)乃俣扔?jì)算出覆層的厚度。QuintSonic 7的突出功能: 儀器所采用的 進(jìn)的傳感技術(shù)和創(chuàng)新的軟件實(shí)現(xiàn)了在應(yīng)用時(shí)高精度測(cè)量,在此之前是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。

QSoft 軟件可以顯示測(cè)量時(shí)A型掃描圖像,這樣可得到更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。參數(shù)設(shè)置用于定義測(cè)量范圍,抗干擾,回波診斷和預(yù)估截止帶范圍。 通過設(shè)置的截止帶可以將雜波排除掉,例如由基材GRP 或CRP 纖維造成的雜波。

3層覆層脈沖圖像

超聲波涂層測(cè)厚另外一個(gè)難點(diǎn)是測(cè)量具有相似特征的涂層厚度。這些涂層的阻抗值之差不足以區(qū)分反饋的超聲波脈沖。QuintSonic 7通過技術(shù)革新解決了這個(gè)問題,較弱的脈沖信號(hào)可以很明顯的區(qū)分開。因此,可以可靠,準(zhǔn)確地完成復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)。

儀器新增一個(gè)功能是可以將標(biāo)準(zhǔn)樣件的聲速內(nèi)置于儀器中。一旦某種介質(zhì)的聲速確定,聲速可以存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)供調(diào)取使用。這樣可以減少測(cè)量時(shí)的設(shè)置時(shí)間。




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