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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>原位樣品桿/臺> TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)

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TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)

參考價 380000
訂貨量 ≥1
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 本公司主要從事半導體進口設備及輔助材料、醫(yī)療檢測設備等多領域的銷售,是一家集研發(fā)、制造、銷售為一體的企業(yè)。我們的主營業(yè)務涉及了研發(fā)銷售及加工材料及周邊產品;電子光電產品設備研發(fā)組裝及銷售,半導體儀器設備銷售;國內貿易、貨物及技術進出口;醫(yī)療器械研發(fā)及銷售;醫(yī)用耗材及醫(yī)療用品的銷售等。

本公司主要從事半導體進口設備及輔助材料、醫(yī)療檢測設備等多領域的銷售,是一家集研發(fā)、制造、銷售為一體的企業(yè)。我們的主營業(yè)務涉及了研發(fā)銷售及加工材料及周邊產品;電子光電產品設備研發(fā)組裝及銷售,半導體儀器設備銷售;國內貿易、貨物及技術進出口;醫(yī)療器械研發(fā)及銷售;醫(yī)用耗材及醫(yī)療用品的銷售等

TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)



? 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV
? 高溫度范圍-60°C至300°C
? 大的靈活性
? 具有特定設計的電纜接口的與功能測試儀的小電纜距離,可實現更好的測量方向性
? 小的卡盤到工作臺面高度可實現佳mmW和內部節(jié)點探測
? 通過在內部集成熱系統(tǒng)的冷卻器,將系統(tǒng)占地面積降至低


結合了MPI的IceFreeEnvironment™,TS3000可以在-60至300°C的寬溫度范圍內對300mm的晶片進行微型定位器和(或)探針卡測試,并具有在膠片框架上進行探測的附加功能。




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