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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學顯微鏡>讀數(shù)顯微鏡>日本電子 JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

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日本電子 JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 日本電子
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/4/15 11:53:23
  • 訪問次數(shù) 398

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深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測試測量領域為客戶提供的測試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務,提供通用測試產品,示波器、邏輯分析儀、信號源、交流、直流電源、數(shù)據采集器、交流、直流電子負載儀和頻譜分析儀、安規(guī)測試、 電能質量分析儀以及數(shù)字萬用表、功率分析儀、熱成像儀、絕緣電阻測試儀。包括全套電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,專業(yè)提供電磁兼容測試系統(tǒng),電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng),并提供專家級的技術和咨詢服務。為各個工業(yè)領域提供創(chuàng)新服務模式涵蓋測試儀器銷售、 計量校準、維修維護以及面向企業(yè)級客戶端的系統(tǒng)集成服務,產品覆蓋通信、工業(yè)電子制造、新能源、微電子、 航空航天,科研院所大學等行業(yè), 我們嚴格遵循以合格的產品去服務于客戶,幫助客戶選擇適合的解決方案。

隨著中國市場越來越多的進口設備進入中國在中國每年有數(shù)量眾多的技術*,價格昂貴的設備因為沒有合理的配備而閑置,對于每一個面對競爭的企業(yè)來說,這種浪費是致命的,我們認為我們必須了解客戶的需求,將行業(yè)內眾多成熟的方案幫助中小型技術企業(yè)客戶實現(xiàn)合理的配置同時提高產品的穩(wěn)定性和可靠性,并降低產品開發(fā)成本和生產成本。

新瑪通過與Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作,為客戶提供產品應用解決方案、計量校準、維修維護和科技資產外包管理等綜合服務。
      新瑪通過與業(yè)務伙伴的緊密合作,憑借便捷的進貨渠道和服務網絡,為客戶提供專業(yè)的產品選型、技術支持、現(xiàn)場測試等快捷的本地化服務,成為電子測試領域的綜合服務商。


示波器,電子負載,熱像儀,邏輯分析儀,頻譜分析儀,數(shù)據采集器,安規(guī)綜合測試儀,交直流電源,電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,

產地類別 進口 應用領域 能源,電子/電池,電氣

 JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡主要特點                                                                                                                                      

1.   FHP2 新型物鏡極靴  

保證超高空間分辨率觀察的同時,優(yōu)化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs(158mm2)的需求,x射線有效檢測效率提高了兩倍以上,實現(xiàn)亞埃級分辨率的EDS元素面分析。


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


 JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

  

2.    新型屏蔽體  

TEM柱采用箱式外殼,可減少溫度、氣流、噪聲等環(huán)境變化的影響,從而提高顯微鏡的穩(wěn)定性。


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡



3.    ETA 校正器 & JEOL COSMO™  

快速準確的像差校正


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡



4.    穩(wěn)定性提高  

CFEG采用小型SIP泵,快速提高真空度,提高了發(fā)射體附近的真空、發(fā)射電流、探針電流的穩(wěn)定性。其他改進也提高了顯微鏡的穩(wěn)定性和對各種干擾的抵抗力。


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡



5.   OBF System (可選件) *

在新的成像方法“OBF STEM(最佳明場 STEM)”中,通過分段式 STEM 探測器獲取的原始圖像被用作相位圖像重建的來源,并使用專用的傅里葉濾波器來所恢復圖像的信噪比。這種有前景的方法即使在極低的電子劑量條件下也能實現(xiàn)重元素和輕元素的更高對比度。對于標準 ADF 和 ABF STEM 方法難以觀察的對電子束敏感的材料,也可以在廣泛的放大倍數(shù)范圍內以更高的對比度輕松進行分析。K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramicroscopy 220, 113133 (2021)


6.   STEM 低劑量成像

包括金屬有機框架(MOFs)和沸石在內的對電子束敏感的材料需要降低電子劑量(通常,探針電流< 1.0 pA),同時保持輕元素框架的清晰原子對比度。對于此類低劑量實驗,OBF STEM 具有優(yōu)勢,能夠實現(xiàn)原子分辨率下的超高劑量效率 STEM 成像。

OBF STEM 圖像 MOF MIL-101(左)和 MFI 沸石(右)均在單次拍攝中獲得,右插圖中的 FFT 圖案也能觀察到 1 埃的高空間分辨率。此外,堆疊圖像平均(左插圖)證實了分辨率和對比度達到了很好的平衡。



JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡



左圖:Sample : MOF MIL-101

Instrument : JEM-ARM300F2,Accelerating Voltage : 300 kV,Convergence Semi-angle : 7 mrad,Probe current : < 0.15 pA,(Insets) FFT pattern and 50 frames averaged image

右圖:Sample : MFI Zeolite

Instrument : JEM-ARM300F2,Accelerating Voltage : 300 kV,Convergence Semi-angle : 16 mrad,Probe current : 0.5 pA,(Insets) FFT pattern

Sample courtesy of Prof. Zhenxia Zhao, Guangxi University


7.   高對比度輕元素成像

除了具有很高的劑量效率外,OBF STEM 在輕元素成像方面也具有優(yōu)勢。即使在較低的加速電壓下,也能實現(xiàn)輕元素的高對比度和高空間分辨率成像。



JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


左圖:Sample : GaN [110]

Instrument : JEM-ARM200F,Accelerating Voltage : 60 kV,Convergence Semi-angle : 35 mrad

右圖:Sample : Graphene

Instrument : JEM-ARM200F,Accelerating Voltage : 60 kV,Convergence Semi-angle : 35 mrad


對于輕元素而言,更高的加速電壓能顯著提高其分辨率。

在復雜結構內部或沿高指數(shù)晶軸方向,每個原子列現(xiàn)在都能以深亞埃級的分辨率清晰分離。

在低劑量條件下,OBF STEM 的質量非常出色,在配備 Cs 校正器的電子顯微鏡的標準探針條件下,其質量還能進一步提升。


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡




   EDS圖片集                                                                                                                                    

1.   Cerium(IV) Oxide nano particle(Mn-doped) @300kv,27pA(128*128像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


2.   Silicon Nitritde@300kv, 33pA(256*256像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


3.   MnAl-Garnet@300kv, 12pA(256*256像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


4.  CaMg-Pyroxene@300kv(256*256像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


5.  CaFe-Pyoxene/CaMg-Pyroxene@300kv(256*256像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


6.  Pd/Pt Core-shell nano particle on carbon support@200kv, 12pA(128*128像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡


7.  Tungsten(IV) Sulfide@80kv, 30pA(256*256像素)


JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡




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