官方微信|手機版

產(chǎn)品展廳

產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會展

發(fā)布詢價單

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>臺階儀> 全自動臺階儀 JS3000B

分享
舉報 評價

全自動臺階儀 JS3000B

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 廣州領拓儀器科技有限公司
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2025/4/24 15:42:19
  • 訪問次數(shù) 184

聯(lián)系方式:隆小姐查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


廣州領拓(L-Victor)成立于2009年, 是一家致力于材料測試儀器儀表領域,并提供失效分析和可靠性分析整體解決方案的企業(yè)。公司秉承著“以誠信為準,以質(zhì)量為勝,以客戶*”的經(jīng)營理念,為客戶提供材料失效分析測試方案、材料物性測試分析方案、材料微觀檢測分析方案、材料測試領域品牌產(chǎn)品設備、材料測試領域的經(jīng)驗知識共享與交流,以及售前技術咨詢、售中合理化方案和售后標準化服務等一整套完善的服務支持,從而大限度的滿足用戶的需求。

領拓代理的產(chǎn)品有:美國Buehler,美國Wilson,德國Leica,Carbolite*Gero,德國Eltra,德國Retsch,德國Microtrac MRB,加拿大Creaform,德國Memmert,韓國EM科特,荷蘭TQC等品牌,擁有50年以上的生產(chǎn)及應用經(jīng)驗。

領拓擁有設備齊全的實驗室和強大的應用團隊,應用工程師均為材料科班出身,兼具豐富的實踐經(jīng)驗,必能為您提供應用解決方案。領拓展示出豐富的技術經(jīng)驗和可靠的商業(yè)信用,一直在業(yè)界內(nèi)享有很高的美譽。

領拓業(yè)務立足于華南,發(fā)展到西南,影響著全國??蛻舭ㄊ聵I(yè)單位、科研院校及眾多領域企業(yè),客戶群體涉及的行業(yè)包括鋼鐵、汽車、五金、PCB、電子、塑膠、玻璃、晶體、航天航空、新能源、制藥、電廠等等。

領譽同行,拓展未來——領拓將持續(xù)以雄厚的實力,重信用、守合同、保質(zhì)量的決心,向廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務和完備的解決方案。
(地址:中國廣州市番禺大道北555號天安科技園總部6號樓)







儀器和消耗品

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應用領域 建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合

全自動臺階儀 JS3000B

• 產(chǎn)品介紹

澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設備的代表,憑借其創(chuàng)新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能,可以對微納結構進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量,在高校、研究實驗室和研究所、半導體和化合物半導體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設備等行業(yè)領域有著廣泛應用。

JS系列臺階儀通過金剛石探針與樣品表面的接觸掃描,將微觀輪廓的垂直位移轉化為電信號,結合高靈敏度傳感器與信號處理算法,實現(xiàn)納米級精度的表面特征捕捉。其核心技術亮點在于超微壓力恒定控制系統(tǒng),通過精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力,既避免了對軟質(zhì)材料的損傷,又確保了測量過程的穩(wěn)定性。此外,設備搭載的攝像頭實時成像系統(tǒng),可同步觀察樣品區(qū)域與探針尖的位置關系,輔助用戶精確定位特征結構,顯著提升測量效率。

作為國產(chǎn)科學儀器的突破性成果,JS系列臺階儀打破了國外品牌在表面測量設備領域的長期壟斷,憑借高性價比與本地化服務優(yōu)勢,成為國內(nèi)高校、科研機構及制造企業(yè)的優(yōu)選設備。 


• 特點

量測精確、功能豐富、一體式集成、模塊化設計、售后便捷、高性價比


• 應用范圍

▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量

▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測量

▲ 各式薄膜等應力測量

▲ 3D掃描成像

▲ 計劃任務和多點掃描

▲ 批量測試晶圓,批量處理數(shù)據(jù)等


• 系統(tǒng)組成

▲ EFEM(LP+ROBOT+ALINGER)

▲ JS300B


• 選配品

▲ 高度校準標樣

▲ FFU模塊

▲ 靜電消除模塊

▲ E84接口


• 技術參數(shù)


JS3000B

臺階高度最大范圍

≤80um

臺階高度重復性

≤0.5nm

垂直分辨率

0.05nm

探針加力范圍

0.5mg~50mg

單次掃描長度

≤55mm

晶圓尺寸

可兼容8寸、12寸Wafer

晶圓厚度

≤10mm

晶圓材質(zhì)

硅、鉭酸鋰、玻璃等(不透明,半透明,透明)

圖像識別系統(tǒng)精度

定位精度優(yōu)于±10um

機械動作穩(wěn)定性

馬拉松傳送測試>500片

生產(chǎn)效率

WPH≥10片(單面量測≥5個位置)

臺階高度最大范圍

≤80um

標準探針

曲率半徑≥2um角度60°(標配)

亞微米探針

曲率半徑≤1um角度60°(選配)

軟件功能

數(shù)據(jù)處理:臺階、粗糙度、平整度和翹曲度測量;

應力測試和3D掃描成像

數(shù)據(jù)通訊:SECS通訊接口





化工儀器網(wǎng)

采購商登錄
記住賬號    找回密碼
沒有賬號?免費注冊

提示

×

*您想獲取產(chǎn)品的資料:

以上可多選,勾選其他,可自行輸入要求

個人信息:

溫馨提示

該企業(yè)已關閉在線交流功能