功率測(cè)試儀
- 公司名稱(chēng) 德雷射科（廊坊）科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/5/22 10:15:47
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 221
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太陽(yáng)光模擬器，穩(wěn)態(tài)模擬器，大面積穩(wěn)態(tài)模擬器，氙燈穩(wěn)態(tài)模擬器，LED穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器，鈣鈦礦電池測(cè)試儀，AM0太陽(yáng)光模擬器，大面積太陽(yáng)模擬器，氙燈光源，
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 觸發(fā)模式 | 穩(wěn)態(tài)式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣,能源,電子/電池,電氣, |
功率測(cè)試儀使?氙燈作為穩(wěn)態(tài)光源，可于晶硅、鈣鈦礦與疊層電池?及其相應(yīng)的組件的IV測(cè)試。設(shè)備主要配置有光源控制系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)、測(cè)試系統(tǒng)、恒溫系統(tǒng)、紅外測(cè)溫探頭、參考電池、計(jì)算機(jī)、顯示器等。
設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)標(biāo)配I-V、V-I掃描?式，具備MPPT（最?功率點(diǎn)追蹤）、I-t（定電壓）等多種測(cè) 試技術(shù)?？色@取I-V曲線(xiàn)，P-V曲線(xiàn)，輻照度曲線(xiàn)，短路電流，開(kāi)路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、 電流，定電壓點(diǎn)電流，填充因?，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻等測(cè)試參數(shù)。
功率測(cè)試儀產(chǎn)品參數(shù)
| 適配標(biāo)準(zhǔn) | IEC60904-9:2020 |
| 光源類(lèi)型 | 氙燈穩(wěn)態(tài)光源 |
| 冷卻方式 | 定制風(fēng)冷 |
| 光源壽命 | ＞1000h |
| 光譜范圍 | 300-1200nm |
| 光源等級(jí) | 1.光譜匹配度 0.875-1.125 A+ 2.輻照度不均勻度 ≤2% A 3.輻照度不穩(wěn)定度 ≤1% A+ |
| 輻照度范圍 | 200W/㎡~1200W/㎡ |
| 測(cè)試面積 | 1.200*200mm；2.240*240mm；3.300*300mm；4.320*320mm；5.可定制其他尺寸 |
| 測(cè)試模式 | 穩(wěn)態(tài)測(cè)試模式可自由設(shè)定由1s到連續(xù)照光 |
| 多通道設(shè)計(jì) | 可實(shí)現(xiàn)36通道同時(shí)測(cè)試，通道數(shù)量可定制 |
| 測(cè)試技術(shù) | 標(biāo)配I-V、V-I掃描方式，具備MPPT（最大功率點(diǎn)追蹤）、I-t（定電壓）等多種測(cè)試技術(shù)，可通過(guò)軟件切換，同時(shí)集成逐點(diǎn)掃描方式（滿(mǎn)足最短≤0.2s步進(jìn)的掃描方式） |
| 測(cè)試電池 | 多晶、單晶、Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層等 |
| 可增配項(xiàng) | 1.集成溫控系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)溫度系數(shù)測(cè)試 2.集成EL測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試 3.可定制0BB測(cè)試工裝、鈣鈦礦適配工裝 4.集成IR紅外熱像儀，實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試 5.手套箱（米開(kāi)羅那） |
| 適配標(biāo)準(zhǔn) Standard | IEC60904-9:2020 | IEC60904-9:2020 |
| 光源類(lèi)型 Light type | 氙燈穩(wěn)態(tài)光源 | Xenon Lamp |
| 冷卻方式 Cooling | 定制風(fēng)冷 | Forced air cooling |
| 光源壽命 Light source lifetime | ＞1000h | ＞1000h |
| 光譜范圍 Spectrum wavelength | 300-1200nm | 300-1200nm |
| 光源等級(jí) Classfication of light source | 光譜匹配度 0.875-1.125 A+ 輻照度不均勻度 ≤2% A 輻照度不穩(wěn)定度 ≤1% A+ | Spectral match is 0.875-1.125, class A+ Irradiance non-uniformity is ≤2%, class A Irradiance instability is ≤1%, class A+ |
| 輻照度范圍 Irradiance intensity | 200W/㎡~1200W/㎡ | 200W/㎡~1200W/㎡ |
| 測(cè)試面積 Illumination area | ? 200*200mm? 240*240mm ? 300*300mm? 320*320mm ? 可定制其他尺寸 | ? 200*200mm? 240*240mm ? 300*300mm? 320*320mm ? Other size can be customized |
| 測(cè)試模式 Test mode | 穩(wěn)態(tài)測(cè)試模式可自由設(shè)定由1s到連續(xù)照光 | Under steady-state mode, it can be set freely from 1s to continuous illumination. Besides |
| 多通道設(shè)計(jì) Multi-channel testing design | 可實(shí)現(xiàn)36通道同時(shí)測(cè)試，通道數(shù)量可定制 | 36 channels can be tested simultaneously, and the number of channels can be customized |
| 測(cè)試技術(shù) Testing technology | 標(biāo)配I-V、V-I掃描方式，具備MPPT（最大功率點(diǎn)追蹤）、I-t（定電壓）等多種測(cè)試技術(shù)，可通過(guò)軟件切換，同時(shí)集成逐點(diǎn)掃描方式（滿(mǎn)足最短≤0.2s步進(jìn)的掃描方式） | It equipped with I-V, V-I scanning, MPPT (maximum power point tracking), I-t (constant voltage) and other test technologies, all these technologies can be switched by software. It also equipped point-by-point scanning ( meet the shortest scanning in step of ≤0.2s |
| 測(cè)試電池 Measurable cell type | 多晶、單晶、Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層等 | Poly-crystalline, Mono-crystalline, TopCon, HJT, BC,CIGS, GaAs, CdTe and Perovskite |
| 可增配項(xiàng) Optional service | ? 集成溫控系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)溫度系數(shù)測(cè)試 ? 集成EL測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試 ? 可定制0BB測(cè)試工裝、鈣鈦礦適配工裝 ? 集成IR紅外熱像儀，實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試 ? 手套箱（米開(kāi)羅那） | ? Temperature Chamber can be integrated to achieve measurement of temperature coefficient ? EL testing system can achieve IV and EL testing at a same production section ? Jigs for 0BB cells and perovskite can be customized. ? Integrated with IR infrared thermal imager to realize heat spot testing ? Glove box（MIKROUNA） |
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