ET200A KOSAKA小坂半導(dǎo)體工藝臺階儀
參考價 | ¥ 5000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 美薩科技(蘇州)有限公司
- 品牌 KOSAKA/小坂研究所
- 型號 ET200A
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/6/20 16:09:54
- 訪問次數(shù) 93
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 20萬-30萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
KOSAKA小坂半導(dǎo)體工藝臺階儀
KOSAKA小坂半導(dǎo)體工藝臺階儀
株式會社小坂研究所(KOSAKA),這家擁有深厚技術(shù)底蘊的日本專業(yè)廠商,自1950年創(chuàng)立以來,便致力于精密測定的研究與創(chuàng)新。其中,KOSAKA ET150臺階儀是該公司的杰出代表,它基于Windows XP操作系統(tǒng),為各類表面提供全面的形貌分析。無論是半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片,還是薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子等,ET150都能應(yīng)對自如,實現(xiàn)高精度的測量。其的金剛石(鉆石)探針接觸測量方式,使得表面形貌分析變得簡單而可靠。此外,ET150還具備多種功能,如測量表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度以及薄膜應(yīng)力等。
該儀器配備了不同型號的探針,并提供了程序控制接觸力和垂直范圍的探頭。其彩色CCD原位采集設(shè)計使得探針工作狀態(tài)一目了然,大大提高了測試區(qū)域的定位準確性。同時,ET150還具備二次元表面解析功能,可輕松測量段差,且具有高精度、高分辨率以及出色的再現(xiàn)性。此外,其FPD面板顯示使得微細表面形狀、段差、粗度等的測定變得簡單易懂。更值得一提的是,其低測定力設(shè)計使得軟質(zhì)材料的測定也成為可能。
縱軸可達到的最高分辨率為0.1納米,而橫軸的最高分辨率則可達到0.1微米,這使得KOSAKA ET150臺階儀能夠精確地測定微細形狀。
其測定力范圍可靈活設(shè)定,從10至500微牛頓,或1至50毫克力,適應(yīng)不同材料的測量需求。該臺階儀特別適用于軟質(zhì)材料的表面測量,例如COLOR FILTER、SPACER以及PI等。