HTOL集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)

卡倫測(cè)控技術(shù)（無(wú)錫）有限公司成立于 2011 年，公司注冊(cè)資金 2000 萬(wàn)?，F(xiàn)在江蘇無(wú)錫·中國(guó)電子(無(wú)錫)數(shù)字芯谷擁有 3800 平生產(chǎn)制造基地和研發(fā)電子實(shí)驗(yàn)室。全體員工通過(guò)十幾年的專業(yè)科研、高?？蒲谐晒D(zhuǎn)化以及外部技術(shù)引進(jìn)合作，在試驗(yàn)方法均滿足 GB、GJB、MIL、JIS、IEC、ATE、AEC 等相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)篩選要求及規(guī)定下，一直致力于可靠性環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備、可靠性老化測(cè)試設(shè)備、低溫恒溫專用設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售并為客戶提供行業(yè)整體解決方案。

公司產(chǎn)品分為兩大模塊。一.可靠性試驗(yàn)設(shè)備，幾乎覆蓋所有電子元器件可靠性試驗(yàn)，是國(guó)內(nèi)可靠性試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品線齊全的供應(yīng)商。設(shè)備有：芯片氣體沖擊、步入式試驗(yàn)室、超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備、氣體式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)、液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱、耐候試驗(yàn)設(shè)備、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、高溫老化室、老化測(cè)試室、低氣壓試驗(yàn)機(jī)、QUV 紫外線老化試驗(yàn)機(jī)、淋雨試驗(yàn)箱、沙塵試驗(yàn)箱、鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)等。二．可靠性老化測(cè)試設(shè)備，如高溫反偏老化系統(tǒng)（HTRB)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)（H3TRB)、間歇式功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)（IOL)、HTOL 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)、HAST 高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)、IGBT 模塊高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)、HTGB 高溫柵反偏老化測(cè)試系統(tǒng)、高精密導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)等。