掃描開爾文探針系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 藝微勝科技（上海）有限公司
品牌 其他品牌
型號(hào)
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2025/7/28 14:36:33
訪問次數(shù) 73

產(chǎn)品標(biāo)簽

表面缺陷檢測表面態(tài)密度測量材料表面分析表面電勢差測量納米級(jí)表面研究

在線交流發(fā)送詢價(jià) 進(jìn)入商鋪同類產(chǎn)品

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公司介紹 主營產(chǎn)品

藝微勝科技（EWIN-TECH）位于上海臨港新片區(qū)的張江科技港，這里是張江與臨港兩大科創(chuàng)高地交匯的核心區(qū)域，匯聚了集成電路、人工智能等前沿產(chǎn)業(yè)的重要資源。臨港自貿(mào)區(qū)作為國家新質(zhì)生產(chǎn)力的重要承載地，以其有力的政策支持、完善的產(chǎn)業(yè)生態(tài)和國際化的發(fā)展環(huán)境，為企業(yè)提供了強(qiáng)大的發(fā)展動(dòng)能。依托這一顯著的區(qū)位優(yōu)勢，藝微勝科技深度融入?yún)^(qū)域創(chuàng)新生態(tài)，持續(xù)推動(dòng)技術(shù)突破與產(chǎn)業(yè)升級(jí)。

作為一家專注于新能源與半導(dǎo)體領(lǐng)域的創(chuàng)新解決方案服務(wù)商，藝微勝科技以“科技為動(dòng)力，創(chuàng)新為使命，共贏為目標(biāo)”，致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)的設(shè)備研發(fā)與技術(shù)方案。我們的核心業(yè)務(wù)涵蓋鋰電、氫電、光電及半導(dǎo)體等行業(yè)精密儀器研發(fā)，原位表征系統(tǒng)集成、智能化方案定制等業(yè)務(wù)流，廣泛應(yīng)用于新能源研發(fā)、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域。憑借硬科技團(tuán)隊(duì)（博士/碩士占比60%）十年以上的行業(yè)技術(shù)沉淀，我們可以為客戶提供從設(shè)備供應(yīng)到系統(tǒng)優(yōu)化的一站式閉環(huán)服務(wù)。

面向未來，藝微勝科技將進(jìn)一步聚焦智能、原位、多維集成化的發(fā)展方向，推動(dòng)核心設(shè)備技術(shù)升級(jí)與自主創(chuàng)新，賦能行業(yè)邁向更高質(zhì)量的發(fā)展，為廣大客戶創(chuàng)造更高價(jià)值。

展開

固態(tài)電解質(zhì)/隔膜離子電導(dǎo)率全自動(dòng)測試系統(tǒng)

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,能源,電子/電池,電氣,綜合

開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe
研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測量半導(dǎo)體樣品表面的電子功函數(shù)。

掃描 Kelvin Probe（開爾文探針）可以測量 CPD（接觸電位差）值，評(píng)估半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)。該技術(shù)起源于19世紀(jì)末，最早由英國科學(xué)家開爾文勛爵所提出，隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步，開爾文探針技術(shù)逐漸得到改進(jìn)和完善，應(yīng)用領(lǐng)域也不斷擴(kuò)大。目前，開爾文探針技術(shù)已經(jīng)成為表面科學(xué)、材料科學(xué)、微電子學(xué)等領(lǐng)域的重要研究手段。

適用研究范圍

材料的功函數(shù)
費(fèi)米能級(jí)的位置
n 或 p 型半導(dǎo)體
半導(dǎo)體的能隙
表面電勢
表面態(tài)密度
表面充放電效應(yīng)
少數(shù)載流子擴(kuò)散長度
溫度和濕度對(duì)功函數(shù)的影響
更多特性

探針結(jié)構(gòu)圖

探頭由Instytut Fotonowy設(shè)計(jì)制造，具有顯著優(yōu)勢：即使在距樣品 0.5 mm 的距離下，仍能獲取強(qiáng)信號(hào)。這使得無論樣品表面粗糙還是拋光，都能夠穩(wěn)定使用。同時(shí)，探頭設(shè)計(jì)具備透光性，允許垂直光束照射樣品。振蕩由電磁鐵驅(qū)動(dòng)，以確保精準(zhǔn)的測量。

掃描開爾文探針系統(tǒng)：掃描開爾文探頭可測量單點(diǎn)接觸電位差（CPD）并掃描整個(gè)樣品表面，分析表面狀態(tài)，評(píng)估表面缺陷和表面態(tài)密度等電學(xué)特性。

掃描開爾文探針系統(tǒng)

我們提供一系列高性能開爾文探針系統(tǒng)，旨在滿足不同測試需求和應(yīng)用場景，確保高效、精準(zhǔn)的表面分析和電化學(xué)測量。無論是基礎(chǔ)的表面功函數(shù)研究，還是高精度的電化學(xué)樣品分析，我們的系統(tǒng)系列都能夠提供全面的解決方案，助力科研人員在材料科學(xué)、電子性能測試和電化學(xué)領(lǐng)域取得突破性成果。每款系統(tǒng)都經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，確保為用戶提供先進(jìn)的測量精度和可靠性。

單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)：用于研究功函數(shù)，能夠精準(zhǔn)測量樣品表面特定位置的接觸電位差（CPD）。
電化學(xué)開爾文探針系統(tǒng)：這是一款創(chuàng)新的設(shè)備，專為直接測量與電解質(zhì)接觸的電化學(xué)樣品電子功函數(shù)設(shè)計(jì)，無需干燥樣品表面，配備了專用的電化學(xué)樣品池。
完整型開爾文探針系統(tǒng)：Fotonowy的完整型開爾文探針系統(tǒng)突破了接觸電位差測量的關(guān)鍵瓶頸，實(shí)現(xiàn)了精確區(qū)分樣品與探針功函數(shù)變化。它提供了更高精度的測量，廣泛應(yīng)用于表面功函數(shù)研究、電子性能測試及材料分析。