量子點(diǎn)和新型發(fā)光材料特性測(cè)試方案是一套綜合了PL，EL測(cè)試功能為一體的OLED，量子點(diǎn)，鈣鈦礦等材料特性測(cè)試方案。

測(cè)量參數(shù)

亮度
色坐標(biāo)
吸光度
主波長(zhǎng)
吸收光譜
發(fā)射光譜
V-I 特性
EQE
PLQY

EQY量子效率測(cè)試方案優(yōu)勢(shì)

• 體積小巧 — 便于靈活使用及運(yùn)輸

• 原位測(cè)量 — 可放置在手套箱內(nèi)，實(shí)現(xiàn)原位測(cè)量

• 操作簡(jiǎn)單 — 設(shè)備無需頻繁校準(zhǔn)

• 結(jié)果準(zhǔn)確 — 使用NIST溯源的輻射校準(zhǔn)

• 測(cè)試高效 — 自動(dòng)測(cè)量和遠(yuǎn)程控制，一次多樣品測(cè)試

• 結(jié)果清晰 — 專用軟件內(nèi)嵌計(jì)算算法，直接得到測(cè)試結(jié)果

• 測(cè)試范圍 — 兼容較寬亮度范圍器件，從0.01 nit 到2*10?nit

  
  

SPECTRUMTEQ-EQY-PL
光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)

光致發(fā)光測(cè)試以模塊化思路設(shè)計(jì)，適合手套箱內(nèi)使用，也可以和電致發(fā)光方案共用部分器件，配合組成一套完整的測(cè)試方案，應(yīng)對(duì)無論是OLED，QLED，PeLED發(fā)光器件，在器件制備的全流程中進(jìn)行器件測(cè)試，測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)過可溯源的光源進(jìn)行定標(biāo)，能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的絕對(duì)量子產(chǎn)率，色度，和光譜測(cè)量。

PL系統(tǒng)針對(duì)手套箱做了易用化的設(shè)計(jì),采用升降臺(tái)承載樣品防止手持造成灑落，在保證操作方便的同時(shí)，保證了每次安裝的位置都相同，降低了人為操作的誤差，提高了整體測(cè)試過程中的結(jié)果可靠度。含激發(fā)光濾光片插槽，根據(jù)激發(fā)光波長(zhǎng)搭配濾光片，防止激發(fā)光和樣品發(fā)光重合對(duì)結(jié)果的影響。

EQY量子效率測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù)

SPECTRUMTEQ-EQY-EL
電致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)

同光致發(fā)光方案一致，電致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)以模塊化思路設(shè)計(jì)，特別適合手套箱內(nèi)使用，使用業(yè)內(nèi)旗艦級(jí)光譜儀，能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的量子效率，亮度，色度等測(cè)量，真正的實(shí)現(xiàn)了制備和測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。EL測(cè)試方案共有兩種配置，分別適配不同的樣品形貌，器件亮度和測(cè)試需求。搭配源表和軟件，可以對(duì)器件進(jìn)行更精確的四點(diǎn)法測(cè)量。

• 方案一：集成化程度高，適配無線遙控自動(dòng)化測(cè)試，3.3寸積分球更適合高亮度樣品，可以根據(jù)器件定制專用夾具，且能進(jìn)行PL擴(kuò)展。

• 方案二：高靈活度探針臺(tái)方案，單點(diǎn)測(cè)試，小體積異形樣品均適用，1.5寸積分球，可以測(cè)試低亮度樣品，安裝方便，小巧靈活。

• 電致發(fā)光系統(tǒng)可以通過增加光致發(fā)光系統(tǒng)配件，實(shí)現(xiàn)電致發(fā)光和光致發(fā)光的兩種功能，同樣的，光致發(fā)光系統(tǒng)也可以通過定制夾具，實(shí)現(xiàn)兩種功能。

  
  

EQY量子效率測(cè)量系統(tǒng)特色