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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>X射線能譜儀(EDS)>EDS 能譜儀

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EDS 能譜儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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杭州科賦機(jī)電設(shè)備有限公司成立于2011年7月,公司位于浙江省杭州市濱江區(qū)(高新區(qū))江南大道3778A3樓,公司業(yè)務(wù)覆蓋浙江、江蘇、上海、安徽、福建、江西等省市,主要經(jīng)營系列三坐標(biāo)測量機(jī)、非標(biāo)檢測試驗設(shè)備、自動化檢測集成軟件及配套硬件,亦是專業(yè)從事檢測儀器的設(shè)備集成商,公司憑借多年在材料力學(xué)、長度計量、化學(xué)分析、無損檢測等領(lǐng)域的從業(yè)經(jīng)驗,為廣大的客戶提供了性能優(yōu)良、精度高、性價優(yōu)益的檢測儀器設(shè)備,公司有專業(yè)團(tuán)隊,依托設(shè)備生產(chǎn)商的鼎力支持,為您提供推薦選型,幫助您的企業(yè)在選擇優(yōu)益的技術(shù)完善您產(chǎn)品的可靠性檢測。為您企業(yè)提供的產(chǎn)品在市場競爭中保駕護(hù)航。

公司經(jīng)營理念:

誠信是基礎(chǔ)、品質(zhì)是保證、產(chǎn)品是核心、服務(wù)是未來;

站在使用者的角度去思考,為您提供優(yōu)質(zhì)的檢測設(shè)備;

 站在經(jīng)營者的角度去思考,為您企業(yè)的產(chǎn)品提供高效的檢測解決方案;

科賦機(jī)電經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋了長度計量檢測儀器、材料力學(xué)檢測儀器、化學(xué)分析檢測儀器、無損檢測儀器及環(huán)境試驗儀器:

長度計量類:

三坐標(biāo)測量機(jī)、輪廓儀、圓度儀、軸類檢測儀、影像儀、測長機(jī)、粗糙度儀一鍵閃測儀等;

材料力學(xué)類:

里氏硬度計、布氏硬度計、洛氏硬度計、維氏硬度計、顯微硬度計、電子萬能試驗機(jī)、液壓萬能試驗機(jī)、動態(tài)疲勞試驗機(jī),扭轉(zhuǎn)試驗機(jī)、沖擊試驗機(jī)及輔助設(shè)備;

化學(xué)分析類:

金相顯微鏡及配套設(shè)備、體式顯微鏡、清潔度分析儀、光譜分析儀、ROHS分析儀、掃描電子顯微鏡;氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等;

無損檢測類:

超聲波探傷儀、超聲波測厚儀、涂鍍層測厚儀、X射線探傷機(jī)、X-RAY實時成像檢測系統(tǒng);

環(huán)境試驗類:

鹽霧試驗箱、高低溫試驗箱、高低溫沖擊試驗箱、三綜合試驗設(shè)備、振動試驗臺等;

     科賦公司的發(fā)展與未來離不開廣大新老用戶的支持與信任,誠摯的希望與您同心協(xié)力實現(xiàn)合作、共贏!

 

 

 

長度計量類如:三坐標(biāo)、輪廓儀、圓度儀、軸類檢測儀、影像儀、測長機(jī)、粗糙度儀;材料力學(xué)類如:里氏硬度計、布氏硬度計、洛氏硬度計、維氏硬度計、顯微硬度計、電子萬能試驗機(jī)、液壓萬能試驗機(jī)、動態(tài)疲勞試驗機(jī),扭轉(zhuǎn)試驗機(jī)、沖擊試驗機(jī)及輔助設(shè)備;化學(xué)分析類如:金相顯微鏡及配套設(shè)備、體式顯微鏡、清潔度分析儀、光譜分析儀、ROHS分析儀、掃描電子顯微鏡;氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等;無損檢測類如:超聲波探傷儀、超聲波測厚儀、涂鍍層測厚儀、X射線探傷機(jī)、X-RAY實時成像檢測系統(tǒng);環(huán)境試驗類如:鹽霧試驗箱、高低溫試驗箱、高低溫沖擊試驗箱、三綜合試驗設(shè)備、振動試驗臺等;

價格區(qū)間 面議 探測器類 硅漂移探測器(SDD)
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,紡織/印染,汽車及零部件,綜合

實時電子圖像及元素分布圖像呈現(xiàn)

同步呈現(xiàn)電子圖像以及元素分布圖同步呈現(xiàn),無需在二者間頻繁切換


靈活記錄

在快速的掃描樣品時,稍做停留即可獲得高質(zhì)量元素分布圖

 

路徑記錄

自動記錄位置信息,以及相應(yīng)位置的元素信息,不會漏掉任何感興趣的特征

以不同亮度呈現(xiàn)元素含量的分布情況,一目了然

選擇感興趣的位置,一鍵返回

 

Ultim@Max 提供硬件支持

大面積能譜效率效果好,是實時獲得元素面分布圖的硬件保證

 

Ultim® Max探頭采用了更大的SDD晶體以及高靈敏的Extreme集成電路

更大的晶體有效面積(40 mm2,65 mm2,100 mm2,170 mm2)保證了所有情況下的高計數(shù)率

低噪音X射線探測提供最準(zhǔn)確的結(jié)果可在高達(dá)400 kcps的計數(shù)率下進(jìn)行準(zhǔn)確定量

定性分析計數(shù)率高于1000 kcps

 

晶體面積對結(jié)果影響明顯

10mm2的探頭相比,在相同條件下對相同區(qū)域進(jìn)行分析,您可以使用170mm2探測器:

將時間縮短為原來的1/17

針對束流敏感樣品,束流僅為原來的6%,可以減少樣品損傷,減少樣品碳污染

 

讓困難樣品的分析變得簡單

低電壓性能:納米材料、不導(dǎo)電樣品、更少的樣品損傷

高靈敏性:輕元素及納米材料

提高SEM-EDS分析輕元素及納米材料的能力

Ultim Extreme無窗能譜具有低電壓下低能端X射線靈敏性

 

不同面積,相同能量分辨率

所有Ultim@ Max探測器均具有相同的能量分辨率

Mn Ka 保證能量分辨率127eV @130,000cpsFKa保證能量分辨率64eV@130,000cps

CKa 保證能量分辨率56eV@130,000cps




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