TOF-S 高重復(fù)性非接觸離線分光干涉式測厚儀
| 參考價 | ￥ 34985 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 TOF-S
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/10/22 9:44:25
- 訪問次數(shù) 57
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
高重復(fù)性非接觸離線分光干涉式測厚儀
高重復(fù)性非接觸離線分光干涉式測厚儀
TOF-S 是一款桌面型離線分光干涉式厚度測量裝置，主要用于測量電子、光學(xué)用透明平滑薄膜和多層薄膜的厚度。以下是其特點(diǎn)和規(guī)格：
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 高精度測量：實現(xiàn)高重復(fù)性測量，精度可達(dá)±0.01微米以下（取決于被測物和測量條件）。
- 溫度穩(wěn)定性：受溫度變化影響小，適合在不同環(huán)境條件下使用。
- 非接觸式測量：采用分光干涉式原理，無需接觸被測物，減少對被測物的損傷。
- 反射型測量：可以從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測量，適合測量透明涂層膜層的厚度（取決于測量條件）。
- 適用范圍廣：適用于研究、檢查用的離線類型以及生產(chǎn)過程中使用的在線類型。
技術(shù)規(guī)格
- 測量厚度范圍：
- 薄物用：1～50微米
- 厚物用：10～150微米
- 測量長度范圍：50～5000毫米
- 測量間距：1毫米及以上
- 最小顯示值：0.001微米
- 電源電壓：AC100V，50/60Hz
- 使用溫度范圍：5～45℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)）
- 濕度范圍：35～80%（無冷凝）
- 測量面積：φ0.6毫米
- 測量間隙：約30毫米
適用場景
- 電子和光學(xué)領(lǐng)域：適用于測量電子和光學(xué)用透明平滑薄膜、多層薄膜等。
- 研發(fā)和質(zhì)量控制：可用于研究和開發(fā)過程中的厚度測量，以及生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。
采購中心
化工儀器網(wǎng)