STD-A 陶瓷介質(zhì)損耗和介電常數(shù)檢測(cè)儀
| 參考價(jià) | ¥1000.00 |
- 公司名稱 鈺展儀器設(shè)備(滄州)有限公司
- 品牌YZYQ/鈺展儀器
- 型號(hào)STD-A
- 所在地滄州市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2025/10/30 16:36:24
- 訪問(wèn)次數(shù) 35
| 介質(zhì)損耗和介電常數(shù)儀器定 | 1000.00元 | 100 臺(tái)可售 |
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瀝青試驗(yàn)儀器、水泥試驗(yàn)儀器設(shè)備、混凝土試驗(yàn)儀器設(shè)備、養(yǎng)護(hù)箱儀器系列、土工試驗(yàn)儀器設(shè)備
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具,電子/電池,電氣,綜合 |



一、陶瓷介質(zhì)損耗和介電常數(shù)檢測(cè)儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。儀器遵從標(biāo)準(zhǔn):GB/T5594.4-1985。
二、陶瓷介質(zhì)損耗和介電常數(shù)檢測(cè)儀儀器的技術(shù)指標(biāo)
1.Q值測(cè)量
a.Q值測(cè)量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;
c.標(biāo)稱誤差
QBG-3E | |
頻率范圍 | 10kHz~10MHz |
固有誤差 | ≤5%±滿度值的2% |
工作誤差 | ≤7%±滿度值的2% |
頻率范圍 | 10MHz~70MHz |
固有誤差 | ≤6%±滿度值的2% |
工作誤差 | ≤8%±滿度值的2% |
2.電感測(cè)量范圍
QBG-3E |
1nH~8.4H |
3.電容測(cè)量
QBG-3E | |
直接測(cè)量范圍 | 1~520p |
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 30~550pF |
準(zhǔn)確度 | 100pF以下±1pF; 100pF以上±1% |
注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)使用方法。
4.信號(hào)源頻率覆蓋范圍
QBG-3E | |
頻率范圍 | 10kHz~70MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz |
CH2 | 100~999.999kHz |
CH3 | 1~9.99999MHz |
CH4 | 10~70MHz |
頻率指示誤差 | 3×10-5±1個(gè)字 |
5.Q合格指示預(yù)置功能:預(yù)置范圍:5~1000
6.Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對(duì)濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
三、介電常數(shù)測(cè)試方法與步驟
1. 把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
2. 在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取100uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
3. 被測(cè)樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降,樣品要盡可能平整。
4. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。
1. 再松開(kāi)兩片極片,把被測(cè)樣品夾入平板電容上下極片之間,調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,以免夾得過(guò)緊或過(guò)松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量(旋轉(zhuǎn)主調(diào)電容旋鈕改變主調(diào)電容電容量),使主機(jī)處于諧振點(diǎn)(Q值最大值)上。
2. 取出S916測(cè)試夾具中的樣品,這時(shí)主機(jī)又失去諧振(Q值變小),此時(shí)調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使主機(jī)再回到諧振點(diǎn)(Q值最大值)上,讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
3. 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):
Σ=D2 / D4
二 介質(zhì)損耗測(cè)試方法與步驟
1. 分布容量的測(cè)量
a) 選一個(gè)適當(dāng)?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端;
b) 將調(diào)諧電容器調(diào)到最大值附近500P左右,令這個(gè)電容是C1,
c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測(cè)試回路諧振,諧振時(shí)Q的讀數(shù)為Q1;
d) 將測(cè)試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,測(cè)出材料厚度后取出材料,調(diào)回到剛才材料厚度,調(diào)節(jié)主調(diào)電容,使測(cè)試電路重新諧振,此時(shí)可變電容器值為C2,Q值讀數(shù)為Q2。
機(jī)構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C1-C2
分布電容為機(jī)構(gòu)電容CZ和電感分布電容C0(參考電感的技術(shù)說(shuō)明)的和電容器損耗角正切為
公式里的C0只是電感的分布電容值,不是主機(jī)軟件顯示的C0
2. 把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
3. 在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取100uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
4. 被測(cè)樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降,樣品要盡可能平直。
5. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開(kāi)兩片極片,把被測(cè)樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的,以免夾得過(guò)緊或過(guò)松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量,使主機(jī)處于諧振點(diǎn)(Q值最大值)上,然后按一次 主機(jī)上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x,記住厚度D2的值。
6. 取出S916測(cè)試夾具中的樣品,(保持S916測(cè)試夾具的平板電容極片之間距不變)這時(shí)主機(jī)又失去諧振(Q值變?。?,再改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量,使主機(jī)重新處于諧振點(diǎn)(Q值最大值)上。
7. 第二次按下 主機(jī)上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測(cè)試。
8. 出錯(cuò)提示,當(dāng)出現(xiàn)tn = NO 顯示時(shí),說(shuō)明測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò),發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯(cuò)誤情況。






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