ARL QUANT'X 能量色散型X射線熒光光譜儀

能量色散型X射線熒光光譜儀/Thermo Scientific ARL QUANT'X

提高元素分析的質(zhì)量標準

新型 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀更高效、更易于操作、 擁有更多的功能，為各個應(yīng)用領(lǐng)域的制造商和研究人員提供優(yōu)良的儀器，幫助解決具有挑戰(zhàn)性的分析任務(wù)。

分析技術(shù)優(yōu)勢如下：

• 快速分析氟（F）到鈾（U）之間的元素

元素的濃度范圍從 < 1 ppm 到 100%

• 多元素同時測量時間10-60秒

• 可選多種進樣器

• 使用 CCD 相機進行樣品成像

• 可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應(yīng)不同樣品大小

• 高性能電制冷硅漂移探測器（SDD）

• 多功能 XRF 應(yīng)用軟件

• 薄膜厚度測量和鍍層分析

• UniQuant ™ 獨特技術(shù)，無標樣多元素同時分析技術(shù)

• 多語言支持

• 可選 TRACEcom，能夠輕松與 LIMS 交互

• 優(yōu)異的機械耐久性，可保證長時間運行

• 設(shè)計緊湊，可以輕松移動

• 低噪音，得益于得益于智能控溫風扇

• 全面的自定義和現(xiàn)場應(yīng)用方法建立功能

• 易于安裝，更易于維護

得益于客戶意見和專家建議，ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀已經(jīng)發(fā)展成一整套完善的設(shè)備，其強大的設(shè)計包含經(jīng)驗證的硬件和全面的軟件，所有軟硬件都由預(yù)先安裝的應(yīng)用程序或現(xiàn)場方法開發(fā)應(yīng)用提供支持。同時，經(jīng)驗豐富且及時響 應(yīng)的服務(wù)組織將確保儀器的正常運行。借助賽默飛世爾科技在數(shù)十個XRF 成功應(yīng)用中積累的豐富專業(yè)知識，分析人員可以集中精力解決每一個分析挑戰(zhàn)。

能量色散型X射線熒光光譜儀建立在豐富成功經(jīng)驗的基礎(chǔ)上

作為 EDXRF 行業(yè)的參考標準，ARL QUANT'X 久負盛名。自面世以來，ARL QUANT'X 采用多種新技術(shù)來推 動 EDXRF性能提高及行業(yè)發(fā)展。ARL QUANT'X 最早推出了第一臺Peltier電制冷Si(Li)探測器，該臺式EDXRF現(xiàn) 已發(fā)展成為一款多功能緊湊型高性能能譜。它的核心是最新一代硅漂移探測器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具高計數(shù)率和高分辨率特性。較大的探測器晶體區(qū)域可確保大的立體角，從而最大限度捕獲由樣品產(chǎn)生的 X 射線。 即使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準直器面 罩時，50瓦特的大功率X射線管也能實現(xiàn)有效激發(fā)。通過9個濾光片組合，可以輕松找到最佳激發(fā)條件。ARL QUANT'X 支持在空氣、氦氣和真空中進行分析，從而確保各類樣品（ 無論液體、松散粉末或固體）均可實現(xiàn)最佳輕元素分析。

提高性能

與上一代產(chǎn)品相比，新型 ARL QUANT'X 結(jié)合了改進的電子器件、全新的探測器、增強的 X 射線管以及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)，從而提高了靈敏度。如果要測定微量元素，除了需要提 升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。ARL QUANT'X 經(jīng)過 精心設(shè)計，可消除探測器電子器件、分析室、光學器件和 X 射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀通常以高于 200 Kcps 的輸入計數(shù)率運行，同時在 Mn Kα條件下保持優(yōu)于 140 eV FWHM 的典型分辨率在較短測量時間下依然可以獲得高計數(shù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)，從而獲得比上一代產(chǎn)品更加準確的分析結(jié)果。

除提升性能外，ARL QUANT'X 還具有體積小的優(yōu)勢，適用于任何實驗室。只需要一個標準電源插座和氦氣（當需要該 氣體時）即可使用。 在儀器接通電源幾分鐘后，Peltier 冷卻 SDD 即可運行，儀器即進入工作狀態(tài)，關(guān)機無需等待。

安全至上

使用X射線時，安全至關(guān)重要。在 ARL QUANT' X上，通過基于互鎖的自動防故障電路設(shè)計和在X射線打開時顯示的清晰警告標志來保證安全。在各次測量之間以及當室蓋打開時，X射線管會關(guān)閉，從而進一步增強操作員的安全。ARL QUANT' X符合嚴格的最新國際安全規(guī)則與規(guī)范。

增強型分析軟件

最新的 WinTrace 分析軟件在 Windows 10 下運行，基于多年完善的研究實踐和豐富經(jīng)驗的優(yōu)良算法，讓EDXRF分析變得更加靈活。該軟件可針對任何樣品中任何數(shù)量的分析物收集和處理多達 9 個濾光后的光譜。分析程序具有多種算法，可校準所需任意數(shù)量的校準標準品（一個標準品即能進 行校準）。收集光譜后，可隨時重新處理和脫機計算光譜。自動化 X 射線功率調(diào)節(jié)功能可保證所有樣品（無論是空氣濾 膜、礦渣、金屬、石油、巖石）都通過其獨特的最佳設(shè)置進行 分析。

簡單且用戶友好的界面

在數(shù)字世界中，即使是優(yōu)良的硬件，如果沒有可以充分發(fā)揮其功能的靈活軟件，它也會受到限制。Method Explorer（ 方法管理器）界面為高級用戶提供每個參數(shù)的訪問權(quán)限，允許他們在任何應(yīng)用中針對關(guān)注元素選擇最高測試通量、或者最佳靈敏度的分析條件。只需單擊元素周期表，即可添加或刪除分析元素。使用樹形界面方便查看校準和分析結(jié)果。 通過已有方法文件可快速建立自己的方法。使用標準數(shù)據(jù)庫 可集中管理參考物質(zhì)、標準樣品的所有數(shù)據(jù)。

雖然全面控制和微調(diào)功能對于光譜儀十分重要，但是速度和易用性在行業(yè)環(huán)境中最為關(guān)鍵。WinTrace 允許使用預(yù)先加載的目標方法設(shè)置快捷方式。操作員只需輸入樣品名稱，然后單擊即可進行測量。在測量后，光譜圖和分析結(jié)果將自動保存到方法中。用戶可方便地將所有分析數(shù)據(jù)存儲在一個位置。

光譜計算

對于任何定量分析，第一個關(guān)鍵步驟是從光譜中準確提取峰值強度。高級去卷積算法允許從包含許多元素分析線的復(fù)雜光譜中正確提取凈峰值強度。并能自動處理逃逸峰及和峰。預(yù)定義的設(shè)置適用于大多數(shù)應(yīng)用，并且可以輕松進行自定義，以應(yīng)對最困難的情況。

元素分析和鍍層分析

WinTace 軟件提供一系列分析算法，可處理任何類型的樣品，無論樣品是固體、粉末還是涂層。如果分析的元素數(shù)量有限并且有足夠可用的標準品，經(jīng)驗算法即得到出色的結(jié)果基本參數(shù) (FP) 算法可用于任意數(shù)量的元素、標準品和激發(fā)條件的校正。FP厚度分析模塊最多可測量六層（包含任意數(shù) 量的元素）的厚度、質(zhì)量和組成。也可以脫機重新計算所有等式，從而輕松實現(xiàn)方法優(yōu)化。

受密碼控制的訪問級別

校準方法具有密碼保護選項，防止操作員在使用該方法時意外更改校準參數(shù)或有用數(shù)據(jù)。WinTrace 還提供不同的用戶級別權(quán)限，入門級模式允許用戶在短時間培訓下能夠快速完成樣品分析，而高級模式則允許用戶管理員可控制儀器及其校準參數(shù)。

數(shù)據(jù)傳輸

通過可選的TRACEcom 軟件包，WinTrace可輕松與 LIMS交互，從而支持以用戶可選格式共享分析數(shù)據(jù)。該功能有助于將ARL QUANT ' X EDXRF光譜儀集成到自動化實驗室中。

多語言

使用已翻譯成您本國語言的軟件時，總會感到更加簡單?，F(xiàn)在，可按多種內(nèi)置語言配置用于 ARL QUANT'X EDXRF 的WinTrace。

UniQuant ™高級無標樣分析技術(shù)

賽默飛世爾科技公司的綜合性半定量無標樣分析方法稱為 UniQuant，它利用所有過濾片和預(yù)設(shè)激發(fā)條件設(shè)置對氟到鈾的所有元素實現(xiàn)最佳測量。并且可在無用戶干預(yù)或優(yōu)化的情況下生成任何未知樣品的最佳曲線。樣品的完整光譜曲線使UniQuant 能夠?qū)λ锌赡艿闹丿B和背景效應(yīng)自動進行校正，而這在能量色散光譜的定量分析中尤為復(fù)雜。

• 分析所有元素

• 在計算中包括每個樣品的獨特物理性質(zhì)，即面積、高度和質(zhì)量

• 空氣或氦氣以及樣品杯膜吸收和雜質(zhì)均得到校正

• 使用漂移校正樣品對X射線管的長期穩(wěn)定性進行監(jiān)控

• 多種可選擇的報告級別和格式可為各類用戶提供清晰結(jié)果

Versatile sample chamber多功能樣品室

批量分析樣品，提高生產(chǎn)效率，并通過大樣品室和多種送樣選配裝置擴展EDXRF的分析通量。模塊化儀器設(shè)計允許在應(yīng)用發(fā)生更改時輕松添加或刪除任何樣品處理選項。

自動進樣器有助于提高生產(chǎn)效率

自動化的 10位和 20位樣品轉(zhuǎn)盤可批量分析標準的液體樣品杯、粉末壓片、氣溶膠和濾膜。 支持外徑為31 mm 的樣品杯，以及最大外徑為51.5 mm 的鋼環(huán)。

氣體選擇

得益于樣品和探測器之間的緊密耦合，即使是在空氣條件下。仍可檢測輕元素。真空有助于提高固體中輕元素的靈敏度，而氦氣環(huán)境則適用于液體樣品。 惰性氣體可用于腐蝕性材料或不穩(wěn)定的材料的分析，考慮這種情況，我們在樣品分析室使用了耐化學腐蝕材料。

適用于大型樣品

單樣品托盤和大樣品臺可接受異形、較大且不規(guī)則的樣品， 大尺寸分析室足夠容納這類樣品。

分析室擴展

對于體積超大的樣品，例如氣缸體、防塵罩、渦輪碎片、汽車 零部件以及高達 36 cm（14.2 英寸）的任何樣品，也可以通過可選的分析室擴展進行分析，而無需額外的工作或準備。

Sample spinning

1 位和10 位樣品轉(zhuǎn)換器可配備樣品旋轉(zhuǎn)器，以進一步降低分析誤差。在分析輕元素時，樣品旋轉(zhuǎn)尤其重要，對于這些元素，將從樣品表面的幾個原子層生成X射線信息。

分析小樣品或小于1mm 的小斑點

可以在 15mm 至 1mm 的范圍內(nèi)調(diào)整光束尺寸，以便進行快速篩選，方便研究和調(diào)查工作。這適用于分析較小樣品或 較大樣品的特定區(qū)域或斑點。

在分析過程中觀察樣品

通過用于樣品成像的 CCD 相機和可調(diào)節(jié)的 X射線束直 徑，ARL QUANT'X 允許您選擇需要分析的樣品部位，從而 將XRF光譜儀“體相分析”的高靈敏特點與“微觀”采樣靈活性結(jié)合。

X射線系列產(chǎn)品

X 射線光譜儀是一種非常強大的常用技術(shù)，可以對各類材料 中的主要、次要和痕量組分進行快速無損的定量分析，包括 固體、粉末、水溶液或有機溶液和分層結(jié)構(gòu)。它在各個行業(yè) 具有多種應(yīng)用：制藥、環(huán)境監(jiān)測、金屬、水泥、電子、玻璃、聚 合物、陶瓷、耐火材料、地球化學、石油、化工和礦業(yè)。

提供全面的 X射線熒光光譜儀和 X射線衍射儀器（EDXRF、WDXRF、XRD、EDS、ESCA），涵蓋從普通到高度專業(yè)化研究應(yīng)用的 X射線光譜測定的所有方面。 從多功能ARL QUANT'X到超精密 ARL 9900 X射線工作臺，每臺儀器都將優(yōu)良的技術(shù)與成熟的高質(zhì)量、耐用性和分析性能結(jié)合。

由于這些儀器中使用了 X 射線，請在安裝之前了解所有當?shù)?法律法規(guī)，以避免發(fā)生任何監(jiān)管問題。