微位移測量激光干涉儀(型M800,德國JENAer公司生產(chǎn),*)
- 公司名稱 上海貝丁漢工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2018/5/19 11:48:58
- 訪問次數(shù) 1515
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產(chǎn)品功能
ZLM800微位移測量激光干涉儀——雙頻激光干涉儀,主要用于各種平臺(tái)和部件的微位測量、各種擺鏡角度變化量的監(jiān)測、運(yùn)動(dòng)平臺(tái)位移量和角度變化的檢測、光刻機(jī)幾何量的測量、數(shù)控機(jī)床幾何量的測量等,zui多可實(shí)現(xiàn)六軸聯(lián)動(dòng)。也可通過位移+偏擺+俯仰的三角關(guān)系檢測物體的振動(dòng)變化。
1.納米級的多軸聯(lián)動(dòng)位移、速度、加速度的動(dòng)靜態(tài)測量分析及運(yùn)動(dòng)控制環(huán)同步測量校準(zhǔn);
2.同步實(shí)時(shí)測量多軸聯(lián)動(dòng)驅(qū)動(dòng)部件的俯仰、扭擺、滾動(dòng)的角位移變化, X-Y-Z 軸的聯(lián)動(dòng)插補(bǔ)位移誤差及驅(qū)動(dòng)匹配誤差分析;
3.納米級振動(dòng)的多軸向同步數(shù)據(jù)采集測量和分析。
性能優(yōu)勢 技術(shù)參數(shù)
32 Bit (實(shí)時(shí)時(shí)間)
Dt » 20 ns
應(yīng)用案例



ZLM800部分光路圖示例

從X、Y和Z方向同時(shí)測量位移變化,其中X和Y在一個(gè)水平層面上







資料下載復(fù)雜光路測量的應(yīng)用.pdf
系統(tǒng)應(yīng)用簡介.pdf
