CM8856 涂層測厚儀

                                                                  北京賽博瑞鑫科技有限公司

產(chǎn)品名稱：涂層測厚儀CM8856
產(chǎn)品型號：CM8856
產(chǎn)品品牌：蘭泰Landtek
產(chǎn)品編號：MC：01558

CM8856涂層測厚儀簡介：

用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

CM8856詳細說明：

● 是用電池供電的便攜式測量儀器， 采用磁感應(yīng)和電渦流原理。測量方法符合標準ISO2178,ISO2360和國家標準GB4956,GB4957.它采用計算機技術(shù),無損檢測技術(shù)等多項*技術(shù),無需損傷被測體就能準確地測量出它的厚度。
● F型探頭可直接測量導(dǎo)磁材料（ 如鐵、鎳） 表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（ 如： 油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等） 。可應(yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測量。
● NF型探頭可測量非導(dǎo)磁金屬基體上的絕緣覆蓋層厚度， 如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠涂層， 也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。
● 具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭,不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量,而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣值。
● 測量范圍寬,分辨率高。
● 自動記憶校準值,方便使用。
● 一體化結(jié)構(gòu),體積小,重量輕。
● 數(shù)字背光顯示,無視差。
● 可存儲99組數(shù)據(jù)通過測出平均值,zui大值和zui小值實現(xiàn)儀器的統(tǒng)計功。
● 利用可選的RS232C軟件和電纜,可與PC計算機通訊,實現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集,處理,分析和打印功能。
● 設(shè)有自動關(guān)機， 實現(xiàn)省電功能。

CM8856特點：鐵基.鋁基兩用

技術(shù)指標：

CM8856技術(shù)指標

規(guī)格
顯示器4位數(shù)字背光液晶
標準測試范圍 0-1250 um（其他測量范圍可訂制）

zui小曲面 F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
zui小測量面積 6mm
zui薄基底 0.3mm
分辨率 0.1μm/1μm
測量精度 ±1-3%n或2.5μm
電池電壓指示 低電壓提示
具有自動識別被測基體的功能。
測量模式單次測量和連續(xù)測量。
具有公英制單位轉(zhuǎn)換功能,實現(xiàn)μm/mil轉(zhuǎn)換。
帶有標準的RS232C接口。
電 源: 2節(jié)7號電池。
操作條件 溫度0-40℃，濕度< 95%
尺 寸 126x65x35 mm
重 量 81 g 不包括電池
標準附件 便攜盒            1只
鐵基              1塊
鋁基              1塊
說明書            1份
校準膜片          1套
（膜片的實際厚度詳見包裝）
可選附件 1.RS232C 通訊電纜和軟件USB適配器
2.藍牙通訊和軟件

CM8856使用方法：

● 基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
● 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
● 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
● 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
● 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。
● 表面清潔度
測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

CM8856應(yīng)用范圍：

應(yīng)用：用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

CM8856注意事項：

影響因素
● 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
● 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
● 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
● 邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
● 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
● 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
● 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
● 磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
● 附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
● 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
● 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測頭與試樣表面保持垂直。

使用儀器時應(yīng)當遵守的規(guī)定

● 基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
● 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
● 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
● 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
● 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。
● 表面清潔度
測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

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