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應(yīng)用報(bào)告：X-Strata920提供鉻鍍層分析
日立分析儀器X-Strata920是一款基于高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD）的高性能、緊湊、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單、快速的鍍層厚度和成分分析，符合檢測(cè)方法ISO 3497和ASTM B568。
X-Strata920使用能量色散X射線熒光 (EDXRF) 的無(wú)損分析技術(shù)來(lái)產(chǎn)生樣品的X射線光譜。該元素X射線光譜通過(guò)提供的基本參數(shù)法（FP）或經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法軟件來(lái)進(jìn)行鍍層厚度或成分分析。X-Strata920配有一系列不同的樣品艙和底座來(lái)滿足不同形狀和尺寸的樣品。
所有樣品艙配置都是開(kāi)槽式，便于快速加載扁平或薄的樣品，例如線路板和電線。激光聚焦確?？芍貜?fù)的樣品放置，以獲得所有操作員的一致結(jié)果?？蛇x的程控樣品臺(tái)使自動(dòng)測(cè)量多樣品或單個(gè)樣品上的多個(gè)特征變得容易，還可以執(zhí)行掃描以獲取凹凸表面的代表性分析。準(zhǔn)直器可選配，以確保適用各種尺寸配件，提供佳性能。