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貨物所在地：上海上海
更新時(shí)間：2025-02-14 21:00:07
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在線(xiàn)詢(xún)價(jià)收藏產(chǎn)品( 聯(lián)系我們，請(qǐng)說(shuō)明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息，謝謝?。?/p>
我們的主要產(chǎn)品包括：
測(cè)量材料硬度和彈性模量的納米級(jí)、微米級(jí)儀器化壓入測(cè)試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）；
界定膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力的納米級(jí)、微米級(jí)、大載荷劃痕測(cè)試儀 (Scratch tester) ；
包括真空、高溫以及線(xiàn)性往復(fù)運(yùn)動(dòng)等選項(xiàng)的摩擦磨損測(cè)試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) ；
zui簡(jiǎn)便易用的膜厚測(cè)試儀；
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。
Anton Paar Conscan白光共聚焦顯微鏡主要特點(diǎn)：
可與CSM各種微米尺度測(cè)量模塊結(jié)合使用，以分析微米級(jí)劃痕和微米級(jí)壓痕的三維表面形貌
非接觸式測(cè)量，*無(wú)損測(cè)量
XY大范圍掃描(使用CSM標(biāo)準(zhǔn)操作平臺(tái))
Z方向?qū)拻呙璺秶?(zui大范圍 400 微米)
精確的二維輪廓，三維成像和表面粗糙度測(cè)量
可以在透明的材料表面進(jìn)行成像
粗糙或光滑表面成像
Z方向zui大掃描范圍的多種選擇
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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