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產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數(shù)顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機、干片機 進口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
中華人民共和國*標(biāo)準(zhǔn)試塊
1. 公務(wù)探傷試塊,CSL-III試塊
CSL-III三角試塊，CSL-III試塊，可利用A孔測定70度探頭的靈敏度余量，也可用A,B孔校正橫波的探測范圍和基線。試塊中的直徑2.5mm橫通孔可作為檢驗儀器的近區(qū)探測能力，參考圖片。
CSL-II三角試塊，主要利用直徑1.5平底孔對37度探頭靈敏度余量的測定。見圖片2
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