三維表面形貌儀 采用了上等光學(xué)系統(tǒng),可通過非破壞觀察法生產(chǎn)高畫質(zhì)的圖像并進(jìn)行**的3D測量,可以滿足不同樣品的觀測需求

三維表面測量儀/形貌儀臺階儀(納米級)NanoFocus2000是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款檢測設(shè)備

采用垂直掃描白光干涉和移相干涉技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對樣品表面粗糙度、臺階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征的納米級三維精密測量。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工藝、航空航天、太陽能電池工藝、材料表面工程、MEMS、超精密加工等領(lǐng)域。

三維表面測量儀/形貌儀臺階儀(納米級)NanoFocus2000產(chǎn)品特點(diǎn)：

測量精度重復(fù)性達(dá)到世界較高水平

關(guān)鍵硬件采用美國、德國、日本等

配備進(jìn)口第三方校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件

高性價(jià)比微觀形貌測量設(shè)備

迅捷、高效的上等售后服務(wù)

覆蓋范圍廣

兼容多種測量和觀察需求

保護(hù)性

非接觸式光學(xué)干涉測量

可操作性

“一鍵式”操作更簡單、高效

智能化

特殊形狀智能計(jì)算特征參數(shù)

個(gè)性化

定制化測試報(bào)告

NanoFocus2000三維表面微觀形貌檢測儀主要由精密載物臺、照明系統(tǒng)、光學(xué)干涉成像系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)移相運(yùn)動(dòng)的微位移系統(tǒng)、圖像采集系統(tǒng)及圖像數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。整個(gè)檢測儀放置在氣浮抗振平臺上。載物臺用于安放被測件，同時(shí)通過傾斜和XY二維平移調(diào)整使被測面**定位于感興趣的區(qū)域；光源及照明系統(tǒng)提供給被測面均勻又充分的反射式照明；干涉成像系統(tǒng)采用Mirau干涉物鏡結(jié)構(gòu)獲取被測表面干涉圖像；采用壓電陶瓷傳感器（PZT）實(shí)現(xiàn)微位移控制；通過CCD與自主開發(fā)的軟件系統(tǒng)采集并處理干涉圖像，獲得被測面的相位信息進(jìn)而得到表面輪廓。

三維表面測量儀/三維表面形貌儀NanoFocus2000(納米級) 主要指標(biāo)：

?    CCD分辨率：像素1280x960

?    測試模式：PSI + VSI 檢測模式

?    縱向分辨率：＜0.1nm 

?    RMS重復(fù)性：＜0.01nm，1σ

?    臺階測量：準(zhǔn)確度≤0.75％

?    臺階高重復(fù)性≤0.1％，1σ

?    高清晰無限遠(yuǎn)成像系統(tǒng)，白光高效LED,光譜濾光

?    Nikon干涉物鏡配置2.5x，5x，10x，20x，50x

?    200mm手動(dòng)樣品臺 （XY高精度）+ 傾斜±6°

三維表面測量儀/三維表面形貌儀NanoFocus2000(納米級) 分析及控制軟件：

?    三維分析處理迅速，結(jié)果實(shí)時(shí)更新

?    縮放、定位、平移、旋轉(zhuǎn)等三維圖像顯示

?    自主設(shè)定測量閾值，三維處理自動(dòng)標(biāo)注

?    測量模式可根據(jù)需求自由切換

?    可創(chuàng)建簡單工作流程，簡化重復(fù)工作

?    三維圖像支持高清打印

?    可進(jìn)行軟件在線升級和遠(yuǎn)程支持服務(wù)