報告簡介：

如何在不破壞樣品的前提下，對大尺寸石墨烯等二維材料的電學性質進行準確快速的測量，是在提升樣品質量并推進其實際應用中，亟待解決的重要問題。常規(guī)的四探針電阻測量法、原子力顯微鏡、共聚焦拉曼等表征方法存在測量尺寸小、效率低、對樣品有損傷等缺點而無法勝任。

在本報告中，我們將結合來自《nature》《science》等期刊的新文獻，介紹種技術，它采用非接觸式方式，快速準確且高效的實現大尺寸石墨烯等二維材料的無損測量，得到電導率、電阻率、載流子和均勻性等分布信息。此方法同樣適用于其他二維材料、半導體薄膜、光伏薄膜的電學性質測量。該方法已經成功應用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企業(yè)，并且其對于石墨及其他二維材料電學測量方法已經成為IEC（國際電工委員會，是性的標準化門機構） TS 62607-6-10:2021(E)的標準規(guī)范^[1]

 1. https://webstore.iec.ch/publication/28888

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報告時間：

2021年12月02日 14:00

主講人：

弓志宏，物理學碩士，2016年畢業(yè)于北京理工大學。主要研究方向為激光光譜學與技術、光與低維半導體納米結構相互作用以及時間分辨發(fā)光動力學等?，F擔任Quantum Design中國子公司產品經理，多年來直負責低維材料光學，電學物性測量設備的應用開發(fā)，技術支持和市場拓展。

技術線上論壇：

https://qd-china.com/zh/n/2004111065734

相關產品：

1.石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量系統(tǒng)-ONYX

http://www.true-witness.com/product/detail/33762952.html