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引起光電直讀光譜儀誤差的原因

閱讀：536      發(fā)布時(shí)間：2015-10-23
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     引起光電直讀光譜儀誤差的原因：
    一、系統(tǒng)誤差
    1、標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)構(gòu)成不一樣時(shí)，能夠惹起基體線和剖析線的強(qiáng)度改動(dòng)，然后引入誤差。
    2、標(biāo)樣和試樣的物理功能不一樣時(shí)，激起的特征譜線會(huì)有差異然后發(fā)作系統(tǒng)誤差。
    3、澆注形態(tài)的鋼樣與經(jīng)由退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓形態(tài)的鋼樣金屬組織構(gòu)造不一樣時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有差異。
    4、未知元素譜線的堆疊攪擾。如熔煉進(jìn)程中參加脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。
    5、要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)則要求。為了反省系統(tǒng)誤差，就需要采用化學(xué)剖析方法剖析數(shù)次校正后果。
    二、偶爾誤差與樣品成分不平均有關(guān)的誤差。
    1、熔煉進(jìn)程中帶入攙雜物，發(fā)作的偏析等形成樣品元素散布不均。
    2、試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
    3、磨樣紋路穿插、試樣研磨過(guò)熱、試樣磨面放置工夫太長(zhǎng)和壓上指紋等要素。
    4、要削減偶爾誤差，就要精心取樣，消除試樣的不平均性及試樣的鍛造缺陷，也可以反復(fù)剖析來(lái)降低剖析誤差。

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