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低溫散射掃描近場光學(xué)顯微鏡

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更新時(shí)間：2025-09-18 10:47:58瀏覽次數(shù)：45次

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LT-sSNOM 具備近場成像與光譜分析能力，同時(shí)支持接觸模式、動態(tài)模式、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等多種 AFM 模式。探針與樣品界面通過離軸拋物面鏡照明，散射光由外差干涉儀檢測。可同時(shí)獲得拓?fù)鋱D像與光學(xué)圖像。

低溫散射掃描近場光學(xué)顯微鏡LT-sSNOM 具備近場成像與光譜分析能力，同時(shí)支持接觸模式、動態(tài)模式、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等多種 AFM 模式。探針與樣品界面通過離軸拋物面鏡照明，散射光由外差干涉儀檢測?？赏瑫r(shí)獲得拓?fù)鋱D像與光學(xué)圖像。
產(chǎn)品規(guī)格波長范圍：532 nm – 20 µm（配金屬反射鏡）
配備光纖干涉儀的 AFM
壓電掃描器，掃描范圍 30×30×15 μm（@4K）
XYZ 樣品納米定位臺，行程 6×6×12 mm
離軸拋物面鏡 XYZ 納米定位臺，行程 4×4×6 mm
200 nm 分辨率電阻式位置傳感器
外徑：49 mm
溫度范圍：10 mK – 300 K
最大磁場：31 T
樣品臺配 8 個(gè)電接觸點(diǎn)
支持模式：Contact / Dynamic / ncAFM / MFM / cAFM / KPFM / PRFM / EFM
低溫散射掃描近場光學(xué)顯微鏡


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