低溫原子力顯微鏡 返回列表頁

低溫原子力顯微鏡LT-AFM/MFM 是一款免對(duì)準(zhǔn)原子力顯微鏡系統(tǒng)，配備 1310 nm 光纖干涉儀，噪聲水平為 15 fm/√Hz，工作溫度范圍為 20 mK–300 K，磁場(chǎng)可達(dá) 16 T。
其免對(duì)準(zhǔn)設(shè)計(jì)使操作更加簡便。光纖干涉儀通過光纖電纜將光引導(dǎo)至懸臂末端并測(cè)量其撓曲，在 4 K 時(shí)可實(shí)現(xiàn) 10 nm 磁分辨率。帶有三凸點(diǎn)的對(duì)準(zhǔn)芯片兼容商用懸臂，免除用戶進(jìn)行光學(xué)對(duì)準(zhǔn)的需求。
LT-AFM/MFM 支持多種成像模式，包括掃描霍爾探針顯微、磁力顯微、電力顯微、開爾文探針力顯微及導(dǎo)電原子力顯微。該設(shè)計(jì)可根據(jù)不同低溫恒溫器的尺寸進(jìn)行定制。
顯微鏡頭部由兩個(gè)同心壓電管組成：內(nèi)管用于掃描，外管用于樣品定位。掃描壓電管包含四象限電極和用于懸臂振動(dòng)的激振壓電元件，可按需提供三種配置選項(xiàng)。
樣品進(jìn)給采用粘滑運(yùn)動(dòng)方式，Z 軸行程為 10 mm，XY 方向行程為 ?3 mm，靈敏度為 50 nm。電子信號(hào)由 LT-AFM/MFM 電子模塊通過 BNC 輸出，經(jīng) LEMO 接口傳輸至顯微鏡。
掃描頭選項(xiàng)超大面積200×200×7.2 μm @ 300 K
50×50×4.8 μm @ 77 K
30×30×2.4 μm @ 4.2 K
大面積150×150×7 μm @ 300 K
36×36×1.8 μm @ 77 K
18×18×0.8 μm @ 4.2 K
標(biāo)準(zhǔn)面積52×52×4.8 μm @ 300 K
14×14×1.2 μm @ 77 K
6×6×0.5 μm @ 4.2 K
超低噪聲 LT-AFM（配備法布里–珀-羅-干涉儀）新集成的光纖法布里–珀-羅-干涉儀可在 4–300 K 范圍內(nèi)工作。采用多層介質(zhì)反射鏡鍍膜光纖，實(shí)現(xiàn)了 1 fm/√Hz 的噪聲水平，理論散粒噪聲極限為 0.51 fm/√Hz。
腔長可調(diào)，光纖可通過集成在壓電管掃描器上的 2 mm 行程壓電納米定位器靠近懸臂。該納米定位器在更換懸臂時(shí)還能將光纖停放到安全位置。
掃描頭選項(xiàng)超大面積200×200×7.2 μm @ 300 K
50×50×4.8 μm @ 77 K
30×30×2.4 μm @ 4.2 K
大面積150×150×7 μm @ 300 K
36×36×1.8 μm @ 77 K
18×18×0.8 μm @ 4.2 K
標(biāo)準(zhǔn)面積52×52×4.8 μm @ 300 K
14×14×1.2 μm @ 77 K
6×6×0.5 μm @ 4.2 K