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2016
04-14AvaRaman拉曼光譜儀應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)分析
AvaRaman-TEC拉曼光譜儀是一體式的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)，集成了高穩(wěn)定性、窄線(xiàn)寬的激光器（785nm或532nm），高靈敏度光譜儀，拉曼測(cè)量軟件及配套Panoraman光譜學(xué)數(shù)據(jù)處理軟件，聚焦型拉曼探...2016
04-05AvaSpec Plasline系列光譜儀不同規(guī)格型號(hào)產(chǎn)品具有哪些特點(diǎn)
AvaSpecPlasline系列光譜儀基于A(yíng)vantes公司的AvaBench-75光學(xué)平臺(tái)，采用模塊化設(shè)計(jì)，可以配置成單通道、雙通道、四通道或多通道（多10個(gè)通道）。AvaSpecPlasLine...2016
03-28AvaSpec-RS可更換狹縫型光纖光譜儀兼顧高分辨率和高靈敏度
光譜儀器是應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、電子技術(shù)及計(jì)算機(jī)技術(shù)對(duì)物質(zhì)的成分及結(jié)構(gòu)等進(jìn)行分析和測(cè)量的基本設(shè)備，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)控制、化學(xué)分析、食品品質(zhì)檢測(cè)、材料分析、臨床檢驗(yàn)、航空航天遙感及科學(xué)教育等領(lǐng)域。由于傳...2016
03-23AvaSpec-NIR256/512-1.7（TEC）型光纖光譜儀采用熱電制冷型近紅外探測(cè)器
AvaSpec-NIR256/512-1.7（TEC）型光纖光譜儀基于A(yíng)vaBench-50對(duì)稱(chēng)式Czerny-Turner光路設(shè)計(jì)。AvaSpec-NIR256-1.7使用的是256像素非制冷InG...2016
03-182016
03-14超低雜散光光纖光譜儀包括一個(gè)新型光學(xué)平臺(tái)
AvaSpec-ULS系列光譜儀包括一個(gè)光學(xué)平臺(tái)，大大降低了雜散光并提高了機(jī)械和溫度穩(wěn)定性。這個(gè)新型的光學(xué)平臺(tái)具有一個(gè)雙內(nèi)置模式消除器和多階復(fù)合拋物面鏡，因此把雜散光降到0.04%，比標(biāo)準(zhǔn)型AvaSp...2016
03-072016
03-022015
10-09OEM模塊化光譜儀應(yīng)用于氣體監(jiān)測(cè)的各個(gè)領(lǐng)域
伴隨著國(guó)內(nèi)GDP的不斷升高，國(guó)內(nèi)大部分地區(qū)的大氣質(zhì)量繼續(xù)惡化，各地發(fā)生的霧霾天氣不斷增多，直接威脅公眾健康。環(huán)保部出臺(tái)諸多措施，其中之一項(xiàng)措施就是2014年1月1日起對(duì)各類(lèi)固定污染源執(zhí)行新的大氣污染物...2015
09-11微型光纖光譜儀的是CEMS系統(tǒng)光譜探測(cè)器的理想選擇
引言煙氣排放連續(xù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)CEMS）廣泛應(yīng)用于火力發(fā)電、化工、石化、鋼鐵、垃圾焚燒、焦化、水泥等行業(yè)的各種鍋爐、窯爐，用于在線(xiàn)監(jiān)測(cè)工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中固定污染源的煙氣排放以及指導(dǎo)煙氣脫硫、脫硝系統(tǒng)的...2015
08-262015
08-252015
08-05高速光譜儀是LED分光機(jī)為核心和關(guān)鍵部件
隨著LED產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，LED的特性測(cè)量問(wèn)題日益受到社會(huì)的關(guān)注。與白熾燈、熒光燈等傳統(tǒng)光源相比，發(fā)光二極管（LED）具有壽命長(zhǎng)、光效高、功耗低及便于維修等優(yōu)點(diǎn)，因此，對(duì)LED性能參數(shù)的測(cè)試顯得尤為重...2015
07-202015
07-152015
07-092015
07-09顏色應(yīng)用軟件用光譜儀系統(tǒng)進(jìn)行顏色測(cè)量
物物體的顏色可以用CIE1976（L*a*b*）顏色空間表示。L*值表示顏色的亮度，正的a*值表示顏色的紅色值，負(fù)的a*值表示顏色的綠色值。近似地，黃色和藍(lán)色值由b坐標(biāo)值表示，正值表示顏色的黃色值，負(fù)...2015
07-06使用反射型光纖探頭在線(xiàn)監(jiān)測(cè)鍍膜生產(chǎn)過(guò)程
在鍍膜過(guò)程中需要對(duì)一些重要參數(shù)進(jìn)行監(jiān)控，如膜層厚度、成分、表面光潔度、光透射率、反射系數(shù)、偏振特性等，都可以利用光譜學(xué)和雙光束干涉的方法進(jìn)行測(cè)量。光纖的使用為監(jiān)控過(guò)程提供了靈活的工具，可以使光方便地進(jìn)...2015
07-03薄膜測(cè)量系統(tǒng)用于測(cè)量薄膜反射率及膜層厚度
薄膜測(cè)量系統(tǒng)是專(zhuān)門(mén)針對(duì)半導(dǎo)體、材料、生物醫(yī)學(xué)薄膜的實(shí)驗(yàn)室分析及在線(xiàn)監(jiān)測(cè)開(kāi)發(fā)的，用于測(cè)量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)基于白光反射及干涉的原理來(lái)確定光學(xué)薄膜的厚度。可以通過(guò)對(duì)白光干涉圖樣進(jìn)行...2015
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