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Modulab XM PhotoEchem光電測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)

閱讀：3876      發(fā)布時(shí)間：2017-4-24
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   Modulab XM PhotoEchem光電測(cè)試系統(tǒng)具有以下特點(diǎn)：
　　●頻域和時(shí)域的測(cè)試技術(shù)，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光電壓衰減，電量抽取和I-V曲線和IPCE測(cè)量
　　●對(duì)有效擴(kuò)散系數(shù)的計(jì)算和電子壽命的“自動(dòng)”數(shù)據(jù)分析的“一鍵式”操作，適合于對(duì)頻域測(cè)試技術(shù)比較陌生的使用者。
　　●帶有NIST(美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))可追溯校準(zhǔn)文件的光源，并且日常可以對(duì)其進(jìn)行校驗(yàn)檢查
　　●長(zhǎng)期穩(wěn)定的熱效管理的光源
　　●提供一系列的高亮度單色LED光源
　　●軟件包含全套電化學(xué)測(cè)試技術(shù)，包括：循環(huán)伏安(C-V)，恒電壓-電流測(cè)試，系列的阻抗測(cè)試方法以及交流伏安法
　　●輔助分壓功能可用于同時(shí)檢測(cè)陽(yáng)極和陰極的阻抗和電壓
　　●Solartron Analytical的頻率響應(yīng)分析（FRA）技術(shù)，包含單波，頻率掃描和多波技術(shù)兼容ModuLab和ModuLab XM全部功能。

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