在長期與用戶接觸中，經(jīng)常遇到用戶對于高溫烤箱與高溫老化房（燒機房）等指標(biāo)近似作用界限模糊的設(shè)備分不清的情況，在此做一個較系統(tǒng)的說明。
　　高溫烤箱用于試驗樣品做高溫適應(yīng)性試驗及高溫應(yīng)力試驗，也可當(dāng)干燥箱用，但由于指標(biāo)差異大，干燥箱不能替代高溫試驗箱。
　　高溫老化房一般用于產(chǎn)品出廠前的老練篩選，挑除前期失效工件。多用于電工電子產(chǎn)品。
　　高溫烤箱現(xiàn)行執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
　　高溫老化房沒有的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，一般參照GB/T11158-2008《高溫烤箱技術(shù)條件》執(zhí)行
　　二、指標(biāo)的異同
　　高溫烤箱
　　溫度波動度：≤1℃
　　溫度梯度：≤2℃
　　溫度偏差：±2℃
　　高溫老化房

　　由于老化房沒有產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗箱指標(biāo)：
　　溫度波動度：≤1℃
　　溫度均勻度：≤2℃（按GB/T11158-98的指標(biāo)）
　　溫度偏差：±2℃
　　換氣量：可調(diào)
　　三、結(jié)構(gòu)
　　由于高溫烤箱溫場要求較高，一般采用層流設(shè)計。
　　高溫老化房一般要考慮試品架或試品車的情況。