DR-M4/M2阿貝折射儀（光學(xué)膜折射率在行業(yè)的應(yīng)用）

                                               DR-M4/M2阿貝折射儀（光學(xué)膜折射率在行業(yè)的應(yīng)用）

現(xiàn)代的任何一種光學(xué)儀器或光電裝置，幾乎都與光學(xué)薄膜息息相關(guān)，如光纖通訊、生物晶片、光顯示器。干涉儀、人造衛(wèi)星、太空遙測(cè)系統(tǒng)、半導(dǎo)體鐳射、微機(jī)電系統(tǒng)、光資訊的存儲(chǔ)、及各式光學(xué)元件；或是日常生活用品，如眼睛、各式家電都是光學(xué)薄膜技術(shù)的延伸，由此可見(jiàn)光學(xué)薄膜技術(shù)發(fā)展的重要性。

光學(xué)薄膜是利用薄膜對(duì)光的作用而工作的一種功能薄膜，光學(xué)薄膜在改變光強(qiáng)方面可以實(shí)現(xiàn)分光透射、分光反射、分光吸收以及光的減反、增反、分束、高通、低通、窄帶濾波等功能。光學(xué)薄膜的種類(lèi)有很多，這些薄膜賦予光學(xué)元件各種使用性能，在實(shí)現(xiàn)光學(xué)儀器的功能和影響光學(xué)儀器的質(zhì)量方面起著重要的或者決定性的作用。

傳統(tǒng)的光學(xué)薄膜是現(xiàn)代光學(xué)儀器和各種光學(xué)器件的重要組成部分，通過(guò)在各種光學(xué)材料的表面鍍制一層或多層薄膜，利用光的干涉效應(yīng)來(lái)改變透射光或反射光的光強(qiáng)、偏振狀態(tài)和相位變化。薄膜可以被鍍制在光學(xué)玻璃、塑料、光纖、晶體等各種材料表面上。它的厚度可從幾個(gè)nm到幾十、上百個(gè)μm。光學(xué)薄膜可以得到很好的牢固性、光學(xué)穩(wěn)定性，成本又比較低，幾乎不增加材料的體積和重量，因此是改變系統(tǒng)光學(xué)參數(shù)的方法，甚至可以說(shuō)沒(méi)有光學(xué)薄膜就沒(méi)有現(xiàn)代的光學(xué)儀器和各種光學(xué)器件。在兩百多年的發(fā)展過(guò)程中，光學(xué)薄膜形成了一套完整的光學(xué)理論—薄膜光學(xué)。

光學(xué)薄膜已廣泛應(yīng)用于各種光學(xué)器件(如激光諧振腔、干涉濾波片、光學(xué)鏡頭等)，不僅如此它在光電領(lǐng)域中的重要作用亦逐漸為人們所認(rèn)識(shí)。

ATAGO愛(ài)                   拓 ATAGO（愛(ài)拓）多波長(zhǎng)阿貝折光儀 DR-M2/M4

可測(cè)量不同波長(zhǎng)下的折射率與阿貝數(shù)值，數(shù)字顯示，準(zhǔn)確清晰，活動(dòng)光源，可定做濾光片，對(duì)薄膜的XYZ軸有特殊方法檢測(cè)！

ATAGO（愛(ài)拓）多波長(zhǎng)阿貝折射儀 DR-M2/M4（最大1,100nm），可在波長(zhǎng)450至1,100nm范圍內(nèi)，使用不同的波長(zhǎng)測(cè)量折射率（nD）和阿貝數(shù)值。測(cè)量結(jié)果通過(guò)調(diào)整分界線(xiàn)至十字交叉點(diǎn)確定，測(cè)量結(jié)果在LCD顯示屏以數(shù)字形式顯示，與傳統(tǒng)型阿貝折射儀相比，讀數(shù)更快速更清晰。尤其適合高精度測(cè)量眼鏡片等聚酯材質(zhì)的折射率。

廣泛用于測(cè)量：濃縮果汁、香精香料、工業(yè)溶液、化工材料、光學(xué)玻璃、塑料薄膜、各種新型材料及某些固體物質(zhì)的折射率（nD）及Brix值。