抗干擾自動介質(zhì)損耗測試儀 返回列表頁

抗干擾自動介質(zhì)損耗測試儀是一種新型介質(zhì)損耗測試儀，采用不改變頻率的方法，運用特殊的算法和抗干擾措施，能得到工頻條件下被試品的電容值（Cx）及（tgδ），該儀器可靠性好，準確度高，能*抑制電場干擾。儀器體積小，重量輕，便于攜帶有靈活的擴展性，通過接口與計算機連接，使用強大的軟件附件，對儀器升級，人性化設計，全自動操作。抗干擾自動介質(zhì)損耗測試儀適合500kV及以下電站有干擾現(xiàn)場的試驗。

測量范圍：
1、介質(zhì)損耗（tgδ）：0～1    分辨率：0.0001
2、電容量（Cx）：≤60000pF          zui小分辨率：0.01pF
   2.1 內(nèi)接方式
       試驗電壓              試品電容量
       5kV  7.5kV  10kV      3pF～50000pF
       1.5kV  2.25kV  3kV    10pF～0.35μF
       0.5kV  0.75kV  1kV    30pF～1.5μF
    2.2 外接方式
    “外接升壓器”方式  “內(nèi)接Cn”zui高試驗電壓10kV
    “外接Cn”方式（外接高壓、外接標準電容器）zui高試驗電壓由標準電容器和被試品決定
     （Umax=lmax/ωC）
    標準回路zui大電流50mA（ln=UωCn）
    被試回種zui大電流2A（lx=UωCx）
3、基本測量誤差
    產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對濕度30%～90%的條件下，應符合下表之規(guī)定。

測量內(nèi)容 tgδ 范圍 電容量范圍 Cx 試品類型 基本誤差
介質(zhì)損耗因數(shù)
tgδ 0～1 50pF～60000pF 非接地 ±（1%讀數(shù)+0.0005）
接地 ±（1%讀數(shù)+0.0010）
10pF～50pF
或60000pF以上 非接地 ±（1%讀數(shù)+0.0010）
接地 ±（2%讀數(shù)+0.0020）
電容量Cx 　 50pF以上 非接地與接地 ±（1%讀數(shù)+2pF）
50pF以下 ±（1%讀數(shù)+1pF）

4、內(nèi)部升壓器輸出能力
    輸出電壓                      額定輸出電流
    5kV  7.5kV  10kV              100mA
    1.5kV  2.25kV  3kV            300mA
    0.5kV  0.75kV  1kV            500mA