深圳維爾克斯光電有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第4年

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Micromanipulator探針臺(tái)
  • Micromanipulator探針臺(tái)
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貨物所在地:廣東深圳市

更新時(shí)間:2025-03-17 21:00:07

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光學(xué)晶體
Micromanipulator探針臺(tái)(probe stations)是市場(chǎng)上用于半導(dǎo)體行業(yè)的是性能完整探針臺(tái)之一,其廣泛的選擇可以滿(mǎn)足大多數(shù)用戶(hù)晶圓測(cè)試應(yīng)用的需求。目前有多種型號(hào)可選,包括專(zhuān)業(yè)的,高性能的,半自動(dòng)的,通用功能的和經(jīng)濟(jì)功能的。此外,Micromanipulator公司還提供必需的消耗品和附件。

Micromanipulator 公司是一家全球性的探針制造商,為半導(dǎo)體行業(yè)提供著全面的探針臺(tái)和配件選擇。由于提供了多種型號(hào),客戶(hù)可以在其功能眾多的產(chǎn)品中選擇出滿(mǎn)足自己需求的探針臺(tái)產(chǎn)品。此外,Micromanipulator 公司*的技術(shù)為集成帶來(lái)了一種“系統(tǒng)方法",包括:振動(dòng)隔離,熱管理,靈性和開(kāi)放的體系結(jié)構(gòu)以及材料選擇。這些技術(shù)可以讓客戶(hù)專(zhuān)注于數(shù)據(jù),而不是探針。


450PM 手動(dòng)探針臺(tái):

-可升級(jí)的手動(dòng)150mm-200mm晶圓探針

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-環(huán)境溫度可達(dá)400

-可根據(jù)客戶(hù)應(yīng)用而升級(jí)


8060手動(dòng)探針臺(tái):

-高性能的手動(dòng)150mm-200mm晶圓探針

-亞微米定位和真正的單點(diǎn)接地

-單手壓板和顯微鏡快速升降

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-65℃至400℃可配置


4060手動(dòng)探針臺(tái):

-高效手動(dòng)150mm-200mm晶圓探針

-單手臺(tái)板升降,可有效更換樣品

-顯微鏡升降鎖定

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-65℃至400℃可配置


P300J電動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái):

-300mm手動(dòng)晶圓探針

-操縱手柄控制

-“微觸控"電動(dòng)控制

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-55℃至300℃可配置


P300A半自動(dòng)探針臺(tái):

-*的300毫米半自動(dòng)晶圓探針

-包含NETPROBE-7控制軟件

-來(lái)自主流測(cè)試公司的驅(qū)動(dòng)程序,包括Keysight, KeithleyLabVIEW

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-55℃至300℃可配置


P200L半自動(dòng)探針臺(tái):

-200mm半自動(dòng)晶圓探針

-可選NETPROBE-7控制軟件,包含晶圓圖、集成視頻、θ校準(zhǔn)、子芯片和模式識(shí)別

-驅(qū)動(dòng)程序源于主流的測(cè)試公司,包括Keysight, KeithleyLabVIEW

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-65℃至400℃可配置


P300L半自動(dòng)探針臺(tái):

-300mm半自動(dòng)晶圓探針

-包含NETPROBE-7控制軟件(晶圓圖、分模、視頻、θ校準(zhǔn)、模式識(shí)別)

-來(lái)自Keysight, KeithleyLabVIEW等公司的主流測(cè)試人員的驅(qū)動(dòng)程序

-可配置用于直流、射頻、微波和高功率應(yīng)用

-55℃至300℃可配置


2210-LS 應(yīng)用板探針臺(tái):

-通用的探針臺(tái)

-探測(cè)無(wú)封裝的集成電路、晶圓和大板,都在溫度下

-40℃至125℃可配置

-集成式隔振平臺(tái)

-定制-例如:雙面探測(cè)和磁刺激

-獲得知識(shí)產(chǎn)權(quán)


VERSA 模塊化探針系統(tǒng):

-基于通用的探測(cè)系統(tǒng)

-定制散熱選項(xiàng)-&冷(無(wú)霜)

-集成式隔振平臺(tái)

-模塊化設(shè)計(jì)允許所有設(shè)備測(cè)試,例如:背面和雙面。

-高功率,直流,高頻,毫米波。

-高速信號(hào)采集。

-在所有溫度下測(cè)試晶片、板、片、包裝件和單個(gè)模具。

-用作光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)。



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