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以色列DUMA的光斑光束分析儀
高分辨率BeamOn X光斑測量儀,7.4 mm x 5 mm靶面,像素尺寸2.4 um
BeamOn X光斑分析儀,又可稱為BeamOn X光斑測量儀或BeamOn X光斑光束分析儀,是DUMA激光光斑分析儀中基于CMOS成像原理的一款設備,具有良好的成本效益。另外,該設備屬于CMOS光斑分析儀,采用全球快門技術,帶有1/1.8英寸的檢測區(qū)域,配套的軟件界面友好,使用方便,能實時檢測和顯示光束輪廓、光斑橢圓度情況。
BeamOn X光斑測量儀的特點:
-測量光斑尺寸低至30微米
-CMOS成像
-光斑橢圓度
-準確質心定位,測量光束輪廓和能量分布
-高幀率——50 Hz
-光譜范圍——350-1310 nm
以色列DUMA的光斑光束分析儀
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