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上海聞奕光電科技有限公司

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顯微光譜系統(tǒng)的測量原理及應(yīng)用范圍

閱讀:1455      發(fā)布時間:2022-3-21
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    顯微光譜系統(tǒng)巧妙的把熒光、拉曼和反射光譜測量功能集成到了一個系統(tǒng)上,實現(xiàn)顯微熒光、拉曼和反射光譜的測量。完整的顯微光譜測量系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微光譜測量模塊、顯微鏡、二維掃描臺等構(gòu)成。系統(tǒng)集成了顯微鏡功能、光譜測量功能和二維掃描MAP功能,實現(xiàn)了顯微鏡、光譜儀和掃描臺的結(jié)合。
  
  一、測量原理:
  顯微光譜系統(tǒng)基于薄膜干涉,這是一種物理現(xiàn)象:薄膜上下表面反射的光波會相互干擾,產(chǎn)生光的干涉現(xiàn)象,進(jìn)而增強或減弱反射光。當(dāng)膜的厚度是其反射光的1/4波長的奇數(shù)倍時,來自兩個表面的反射光會相互抵消,因此光不會被反射,全部透射過去了。當(dāng)厚度是光的1/2波長的倍數(shù)時,兩個反射波會互相增強,從而增加反射并降低透射。因此,當(dāng)由一組波長組成的白光入射到薄膜上時,某些波長(顏色)的光被增強,而其他波長則被減弱。
  
  在這種裝置中,光學(xué)系統(tǒng)在物體表面成一個點源的像。反射回來的散射的光由同一光學(xué)系統(tǒng)收集,該光學(xué)系統(tǒng)將光點成像在一個針孔上。針孔位于光電探測器的前面。它可以過濾到達(dá)光譜儀的光線,因此也稱為“空間過濾器”。
  
  通過對混合的兩個波前而產(chǎn)生的干涉圖進(jìn)行光譜分析,以計算它們各自光程中的差異。在測量厚度時,兩個波前是通過透明樣品的兩個面上的反射生成的。在這種情況下,光程差與樣品厚度成正比。干涉信號是頻率光譜,根據(jù)該信號的光譜相位,計算樣品厚度(或氣隙厚度)。
  
  二、產(chǎn)品應(yīng)用:
  1、微流控領(lǐng)域:可以觀察和精確定位樣品區(qū)域,并進(jìn)行熒光、拉曼和反射光譜的測量;
  2、農(nóng)業(yè)領(lǐng)域:如測量某種葉片某個區(qū)域的熒光、拉曼或者反射光譜的強度分布,研究病蟲害等;
  3、激光材料領(lǐng)域:研究材料熒光信號、拉曼信號,從而評價材料性能和參數(shù)指標(biāo);
  4、光子晶體領(lǐng)域:如測量利用光子晶體原理制造的紡織品,測量某微小區(qū)域的顏色值,某個較大區(qū)域的顏色分布情況等;
  5、材料研究領(lǐng)域:通過研究材料微觀區(qū)域的光譜情況,來研究材料特性。

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