進行開關柜溫升試驗時，應該怎么選擇試驗方案

開關柜中包含有熔斷器，試驗時應裝上適合于試驗的熔體(由制造廠規(guī)定)。熔體的功率損耗、試驗中所用的外接導體(導線)尺寸和布置情況應寫入試驗報告中。

  測量部位包括：

  (1)母線連接處以及其他元器件與母線的連接處。

  (2)抽屜式設備的母線室、功能單元室和電纜室的空間。

    (3)可觸及的門、手柄和覆板。

    以上三種部位均應盡量選產(chǎn)生溫升zui高點進行測量。

    當溫度變化不超過1℃／h時，則可記錄其溫升值。其值應不超過有關標準的規(guī)定值。裝置內(nèi)絕緣沒有破壞，元器件在設備內(nèi)的溫度條件下正常工作，則溫升試驗合格。

試驗方案應選擇損耗zui大的方案。

    進行單獨電路的溫升試驗時，電路應通以設計規(guī)定的額定工作電流。

    進行裝置的溫升試驗時，在考慮了額定分散系數(shù)后，應選擇一個或幾個有代表性的并能獲得zui高溫升的電路，給這些電路通以各自設計規(guī)定的額定工作電流。

試驗時輔助電路(包括繼電器、接觸器、脫扣器的線圈)應加上設計規(guī)定的額定工作電壓。