廣皓天氙燈老化試驗箱該產(chǎn)品適用于橡膠、涂層、電工電子產(chǎn)品、材料在受到太陽輻射條件下產(chǎn)生的熱、機械、化學(xué)、電等的效應(yīng)及確定其適應(yīng)性，采用氙燈做光源，光譜分布zui...

工業(yè)氙燈老化試驗箱采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗。

多功能氙燈老化試驗箱采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗。

氙燈老化試驗箱通過材料試樣暴露在金鹵燈的光照及熱輻射下進行老化試驗，來評價在高溫光源作用下某些材料的耐光、耐候性能.主要用于汽車、涂料、橡膠、塑膠、顏料、粘合劑...

紫外線老化試驗箱 材料老化測試得力助手紫外線加速耐候試驗箱專為模擬材料在紫外線環(huán)境下的老化過程而設(shè)計。在眾多行業(yè)中，材料的耐候性是決定產(chǎn)品質(zhì)量與使用壽命的關(guān)鍵因...

紫外線老化試驗箱 抗老化箱用于國防工業(yè)，航天工業(yè)，汽車軟管部件，電器軟管零組件，橡/塑膠、線材電線纜、皮革工業(yè)、合成皮、紡織、橡膠、成品鞋、鞋面皮、鞋底等材料在...

模擬光照紫外線老化試驗箱廣皓天試驗設(shè)備是一家品牌度較高的試驗箱品牌，從事的業(yè)務(wù)包括試驗箱生產(chǎn)、出售、維修、研發(fā)創(chuàng)新等服務(wù)的直接廠家。他們憑借著高質(zhì)量的試驗設(shè)備，...

廣皓天 全自動紫外線老化試驗箱適用于非金屬材料、有機材料(如:涂料、油漆、橡膠、塑膠及其制品)經(jīng)在陽光、濕度、溫度、凝露等氣候條件的變化下檢驗有關(guān)產(chǎn)品及材料老化...

復(fù)層式溫濕度試驗箱 可單獨控制搭配高精度可程式控制器于兩機一體或三機一體之復(fù)層式恒溫恒濕機.各層之控制.冷卻.加熱.加濕.除濕及循環(huán)系統(tǒng)獨立,可個別使用不同之測...

復(fù)層式溫濕度試驗箱 干燥箱搭配高精度可程式控制器于兩機一體或三機一體之復(fù)層式恒溫恒濕機.各層之控制.冷卻.加熱.加濕.除濕及循環(huán)系統(tǒng)獨立,可個別使用不同之測試條...

多層式高低溫濕熱試驗箱應(yīng)用于化驗室，實驗室，電子通訊，塑料，電纜，電鍍，五金，光電，塑膠制品，模具，鞋材，噴涂，印刷，醫(yī)療，航天及高等院校等行業(yè)。

復(fù)層式溫濕度試驗箱 可程式濕熱老化箱三層式恒溫恒濕試驗箱主要國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品...

復(fù)層式溫濕度試驗箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、科研等行業(yè)。

多功能工業(yè)冷熱沖擊試驗箱模擬的是一種惡劣的溫度環(huán)境，來對金屬、塑料、橡膠、子等材料進行篩選和考核，可作為產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。試驗產(chǎn)品在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連...

兩槽式冷熱沖擊試驗箱 不銹鋼材質(zhì)模擬的是一種惡劣的溫度環(huán)境，來對金屬、塑料、橡膠、子等材料進行篩選和考核，可作為產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。試驗產(chǎn)品在瞬間下經(jīng)*溫及極...

高低溫冷熱沖擊試驗箱 恒溫恒濕箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、科研等行業(yè)。

兩槽式移動式冷熱沖擊試驗箱又名小型高低溫沖擊試驗箱、小型冷熱沖擊試驗機、小型冷熱沖擊測試箱、小型冷熱沖擊箱等主要應(yīng)用于測試各種零部件、材料結(jié)構(gòu)及復(fù)合材料等，在溫...

兩槽式冷熱沖擊試驗箱 可非標(biāo)定制又名小型高低溫沖擊試驗箱、小型冷熱沖擊試驗機、小型冷熱沖擊測試箱、小型冷熱沖擊箱等主要應(yīng)用于測試各種零部件、材料結(jié)構(gòu)及復(fù)合材料等...

大型冷熱溫控試驗箱 老化箱適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供...

大型冷熱溫控是試驗箱 1200L適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測...