器件的I-V功能測試和特征分析是實驗過程中經(jīng)常需要測試的參數(shù)之一，一般我們用到源表進行IV參數(shù)的測試，如果需要對測試的數(shù)據(jù)進行實時IV曲線圖顯示及保存，可以用到源表測試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關(guān)于用源表測試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測試軟件。

　　一、各種器件的I-V功能測試和特征分析包括

　　1、分立和無源元件

　　兩端口器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

　　三端口器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）場效應(yīng)晶體管（FET），等等

　　2、簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器

　　3、集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）

　　模擬IC

　　射頻集成電路（RFIC）

　　專用集成電路（ASIC）

　　片上系統(tǒng)（SOC）器件

　　4、光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）、顯示器

　　5、圓片級可靠性

　　NBTI、TDDB、HCI、電遷移

　　6、太陽能電池

　　7、電池

　　等等...

　　二、NS-SourceMeter源表測試軟件IV特性測試應(yīng)用案例

　　這里以納米NS-SourceMeter源表軟件為例，用到軟件的掃描模塊進行IV曲線的測試演示。

　　◆試驗參數(shù)設(shè)置界面

　　在此界面中進行試驗的具體參數(shù)設(shè)置，選擇接線方式（二線法、四線法），掃描模式（從起點到終點單項掃描、從起點到終點循環(huán)掃描、從零點開始循環(huán)掃描），傳感器模式、輸出測試通道（通道、輸出類型、起點電壓、終點電壓、掃描步長、電流限制、測量間隔、循環(huán)間隔、循環(huán)次數(shù)），如下圖所示。

　　◆ 運行測試界面（舉例說明）

　　測試內(nèi)容：伏安特性曲線（900KΩ）

　　測量結(jié)果：源表會根據(jù)改模塊配置，如掃描模式（從起點到終點單項掃描），傳感器模式（關(guān)閉），通道（CH1），輸出類型（電壓輸出），起點電壓（0.10V）,終點電壓（10.00V），掃描步長（0.10）、電流限制（1.00A），測量間隔（0.01S），循環(huán)間隔（0.10S）,循環(huán)次數(shù)（1.00次）進行掃描，如下圖所示。

　　源表測試軟件詳情介紹及下載地址：搜索【納米軟件】