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IE200M倒置金相顯微鏡

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  • 所在地 杭州市
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更新時間:2025/05/16 15:29:46瀏覽次數(shù):1122

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IE200M倒置金相顯微鏡 操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。

詳細介紹

IE200M倒置金相顯微鏡

IE200M三目倒置金相顯微鏡 操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。

高精度粗微動調焦機構
采用底手位粗微調同軸調焦機構,左右側均可調節(jié),微調精度高,手動調節(jié)簡單方便,用戶能夠輕松得到清晰舒適的圖像。粗調行程為38mm,微調精度0.002。

大尺寸機械移動平臺
采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中,便于調焦機構與平臺移動的操作切換,為用戶提供更加高效的工作環(huán)境。


IE200M倒置金相顯微鏡

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