廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
初級會員 | 第3年

400-8084-333

標樂Buehler 金相制樣
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
英斯特朗Instron 力學(xué)測試
業(yè)納 長度測量儀器
澤攸科技掃描電鏡&臺階儀
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無損檢測
TQC /SHEEN涂料測試
其他設(shè)備
金相切片耗材

應(yīng)用案例丨PCB板表面銀鍍層的截面制備

時間:2024/1/18閱讀:321
分享:


PCB板作為集成電子元器件的連接載體,其質(zhì)量好與壞會直接影響智能電子設(shè)備的性能。譬如PCB板表面的銅層暴露在空氣中很容易被氧化,從而損害PCB板的電氣性能。為了防止銅層被氧化,工程師們想出了各種方法來保護PCB板表面,如鍍上金或者覆蓋一層銀等金屬,這樣不僅可以提高PCB板的防護性,還能提高其可焊接性、導(dǎo)電性和耐磨性。這些金屬鍍層的厚度大小需要控制在一定范圍內(nèi),我們可通過制備PCB板的截面來檢測鍍層厚度是否滿足要求。

圖片

覆蓋銀層的PCB板需要獲得其較小的厚度值,普通的機械磨拋會帶來一定的變形而產(chǎn)生較大誤差。因此在機械磨拋后,可再進行離子束拋光,從而去除機械應(yīng)力,獲得真實的厚度數(shù)據(jù)。



# 01冷鑲嵌

圖片

耗材:

標樂型號為EpoKwickTMFC的環(huán)氧樹脂及相應(yīng)固化劑套裝;

標樂型號為SamlKupTM的模杯;

標樂型號為ReleaseAgent的脫模劑。

過程:

脫模劑涂抹模杯,以樹脂與固化劑以4.4:1的重量比混合,攪拌均勻后倒入直徑25mm的模杯內(nèi),鑲嵌的高度控制在12cm以內(nèi),待約2h后凝固。

圖片



圖1. 鑲嵌示意圖




# 02 機械磨拋



研磨過程采用的是標樂型號為EcoMet30手自一體磨拋機,主要參數(shù)如下表所示:

表1.機械磨拋參數(shù)

圖片

圖2是經(jīng)機械研磨后,在光學(xué)顯微鏡下觀察到的形貌,研磨表面光潔平整無劃痕。

圖片

圖2. Ag鍍層截面在金相顯微鏡下的磨拋最終狀態(tài)

(物鏡100X)



# 03離子束拋光

圖片


采用工裝工具和樣品臺調(diào)整好樣品的高度與水平度,裝夾入離子束切割拋光儀樣品倉內(nèi),設(shè)置參數(shù)后開始。離子束拋光參數(shù)如下表:

表2.離子束拋光參數(shù)

圖片

下圖3是經(jīng)機械研磨+離子束拋光處理后,掃描電子顯微鏡SEM下觀察,可清晰地分辨鍍層并準確地測量其厚度,厚度尺寸約為417nm。

圖片

圖3. Ag鍍層截面離子束拋光后在SEM下的狀態(tài)



# 04 備注

圖片

 1、樣品鑲嵌時要確保樣品垂直,避免傾斜使得測量的厚度結(jié)果偏大;

 2、以上參數(shù)僅供參考,可根據(jù)當下具體樣品材料等信息進行調(diào)整。



# 05 所用設(shè)備

圖片
圖片

標樂手自一體研磨機EcoMet30


圖片

徠卡金相顯微鏡DM4M


圖片

Leica EM TIC3X離子束切割拋光儀


會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言