型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）

1

1

10

99

每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值）

1

500

可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)

1

數(shù)據(jù)總量

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計計算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

√

√

√

讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

√

√

組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar

√

√

組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

√

√

存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

√

分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值

√

√

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

√

√

√

其他功能

設(shè)置極限值

√

√

連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值

√

√

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

√

√

連續(xù)測量模式中顯示zui小值

√

√

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
（凸/凹）

zui小測量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸

磁
感
應(yīng)
法

F05

0-500μm

0.1μm

±（1%±0.7μm）

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±（1%±10μm）

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±（1%±10μm）

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±（3%±50μm）

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm

兩
用

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

電
渦
流
法

N02

0-200μm

0.1μm

±（1%±0.5μm）

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±（1%±1μm）

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±（1%±25μm）

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±（1%±50μm）

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±（1%±0.3mm）

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度

FN2
0～2000μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（O.1μm）

F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高（O.1μm）

F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高（O.1μm）

F2/90
0～2000μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量

F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，
如玻璃、塑膠、混凝土等

F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，
如玻璃、塑膠、混凝土等

F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）

N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）

N2
0～2000μm,φ5mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高（O.1μm）

N2/90
0～2000μm,φ5mm
磁性測頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測量

N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高（O.1μm）